基础练习 芯片测试
问题描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。 给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。 第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3 1 0 1 0 1 0 1 0 1
样例输出
1 3 思路： 注意题中说的“好芯片比坏芯片多”，所以对于每个芯片，可以记录其他行的芯片对该芯片的“投票”，由于好芯片多，所以投票结果是right > wrong，则该芯片为好，否则为坏。
#include<cstdio>
#include<iostream>
#include<cstring>
#define fr(a,b) for(int a=0;a<b;a++)
#define set(a,b) memset(a,b,sizeof(a))
using namespace std;
int main()
{
int n;
scanf("%d",&n);
int a[25][25];
for (int i = 0; i < n; i++)
{
for (int j = 0; j < n; j++)
{
scanf("%d", &a[i][j]);
}
}
int r[25], w[25];
set(r, 0);
set(w, 0);
for(int i = 0; i < n; i++)
{
for(int j = 0; j < n; j++)
{
if(a[j][i]==0)
w[i]++;
else
r[i]++;
}
}
for(int i = 0; i < n; i++)
{
if(r[i] > w[i])
printf("%d ",i+1);
}
printf("\n");
}本文参与 腾讯云自媒体分享计划，分享自作者个人站点/博客。
原始发表：2015年03月11日，如有侵权请联系 cloudcommunity@tencent.com 删除
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