XRD（D8 Advance X射线衍射仪）

1.仪器设备简介

Bruker D8 Advance采用当前最先进的技术，能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性、定量分析。仪器应包括长寿命X射线光管、高精度测角仪、能量色散探测器以及相关外围设备。设备总价14万美元。

采用新一代陶瓷X光管技术，焦斑位置稳定，衰减小，寿命长，尺寸标准；采用封闭靶技术，后期维护方便；新一代林克斯XE探测器，分辨率比上一代提升一个数量级。

常见问题:

问 样品峰信号不好，测试时候有没有什么改善方法呢？

建议只扫出峰位置，这样强度和峰形会较好一些；

问 XRD测试薄膜样品，对膜厚有什么要求呢？

XRD常规模式要求膜厚必须均匀，有些薄膜不均匀，两边厚中间薄是会影响峰强度的；

问 XRD定量的准确度如何呢？

XRD只能做半定量分析，定量结果只能参考，准确度不高；

问 XRD掠入射角度的选择？

掠射角度建议越小越好，一般都是0-1°最好，例如0.5°，不建议2°或3°，这种基本不叫掠射，基底的信号也会比较明显；

问 有荧光散射的样品测XRD，数据会受影响？是否可以改善？

有荧光散射现象的样品，比如铁，铜靶测试铁含量较高的样品时，测试结果基线会比较高，这种情况是无法改善的； 

样品要求：

1．粉末样品不少于20mg（样品需要提前研磨，颗粒较大将导致图谱峰形不完整或出现偏差）；块体或薄膜在1×1cm到2.4×2.4cm，厚度小于1cm（至少有一个面是平整的）；

2.  特别注意：测试是连续扫描；特殊尺寸请提前沟通，表面不平整、粒度大小可能会影响数据效果，测前请依据自己的测试目的进行确认；

3.  掠入射尺寸同常规块体要求，整体厚度不超过2mm，薄膜层尽量均匀；（请提供基底信息，若有常规测试谱图请提供）

结果展示：