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应用||USB-5855用于半导体载流子寿命测试

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发布2022-05-31 11:28:36
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发布2022-05-31 11:28:36
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半导体载流子即半导体中的电流载体,包括电子以及电子流失导致共价键上留下的空位(空穴)。少数载流子即非平衡载流子,对于p型半导体来说便是其中的电子,对于n型半导体来说便是其中的空穴,它们在电场作用下能作定向运动,形成电流。半导体少数载流子寿命可以用来表征材料纯度与结构完整性,是半导体材料的一个重要参数。

半导体少数载流子寿命测试系统是对集成电路及太阳能电池级硅片、外延片、扩散片载流子寿命的扫描测试系统,系统架构如下:

由继电器输出驱动电磁阀推送检测物,采用高速采集卡进行至少2路电压信号采集,经过运算测试载流子寿命,以确定半导体材料的纯度。

由于检测次数非常频繁,高峰时达到每月数万次,而普通机械继电器寿命为直流供电是50万次,交流供电是20万次。如果采用普通机械继电器,半年左右就需要更换一次继电器模块,造成人工和材料的浪费,也为系统带来不稳定因素。

经方案论证,选用研华USB-5855成功解决此问题。USB-5855是研华USB3.0总线的采集控制模块,带32通道隔离DI和16通道PhotoMOS继电器输出。

PhotoMOS继电器是“光电耦合器”,触点不进行机械性的开闭,没有机械性、电气性寿命,满足客户高频率触点吸合要求。USB-5855具有16通道PhotoMOS SPST (Form A)继电器输出,最高负载电压60V,负载电流1.2A,最大4A @ 100ms (1 pulse),开关时间为1ms/0.6ms,并具有1500VDC的隔离保护。

USB-5800系列USB3.0数字IO模块是专为工业应用设计的,为防止突发故障或断开,具有独特的自动恢复技术保证零故障。支持冗余供电、菊花链I/O扩展、浪涌和突波保护,适用于各种工业控制应用。详见用于工业控制系统的USB-5800系列

USB-5800系列部分产品规格如下:

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  3. 用于工业控制系统的USB-5800系列
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