应用||USB-5855搭配仪器进行半导体载流子寿命测试

半导体载流子即半导体中的电流载体，包括电子以及电子流失导致共价键上留下的空位（空穴）。少数载流子即非平衡载流子,对于p型半导体来说便是其中的电子,对于n型半导体来说便是其中的空穴，它们在电场作用下能作定向运动，形成电流。半导体少数载流子寿命可以用来表征材料纯度与结构完整性,是半导体材料的一个重要参数。

半导体少数载流子寿命测试系统是对集成电路及太阳能电池级硅片、外延片、扩散片载流子寿命的扫描测试系统，系统架构如下：

由继电器输出驱动电磁阀推送检测物，采用高速采集卡进行至少2路电压信号采集，经过运算测试载流子寿命，以确定半导体材料的纯度。

由于检测次数非常频繁，高峰时达到每月数万次，而普通机械继电器寿命为直流供电是50万次，交流供电是20万次。如果采用普通机械继电器，半年左右就需要更换一次继电器模块，造成人工和材料的浪费，也为系统带来不稳定因素。

经方案论证，选用研华USB-5855成功解决此问题。USB-5855是研华USB3.0总线的采集控制模块，带32通道隔离DI和16通道PhotoMOS继电器输出。

PhotoMOS继电器是“光电耦合器”，触点不进行机械性的开闭，没有机械性、电气性寿命，满足客户高频率触点吸合要求。USB-5855具有16通道PhotoMOS SPST (Form A)继电器输出，最高负载电压60V，负载电流1.2A，最大4A @ 100ms (1 pulse)，开关时间为1ms/0.6ms,并具有1500VDC的隔离保护。

USB-5800系列USB3.0数字IO模块是专为工业应用设计的，为防止突发故障或断开，具有独特的自动恢复技术保证零故障。支持冗余供电、菊花链I/O扩展、浪涌和突波保护，适用于各种工业控制应用。详见用于工业控制系统的USB-5800系列

USB-5800系列DIO部分产品规格如下：

相关参考资料

1. 研华测试与测量解决方案2020.11
2. 应用|USB-4761低成本实现生产管理智能化
3. 用于工业控制系统的USB-5800系列
4. 应用案例：USB-4716RS用于双工位精密点胶机测距
5. 应用||USB-4711用于焊接机器人状态监测系统
6. 应用案例：ADAM-3017/USB-4716数控机床主轴校准与颤振监测系统
7. EDM||研华USB数字存储示波器
8. 研华USB数字存储示波器USB-DSO系列!
9. USB-DSO示波器CAN总线译码!