前往小程序,Get更优阅读体验!
立即前往
首页
学习
活动
专区
工具
TVP
发布
社区首页 >专栏 >JENOPTIK的“用于光子集成电路大批量晶圆级测试的光电探针卡”报告

JENOPTIK的“用于光子集成电路大批量晶圆级测试的光电探针卡”报告

作者头像
睐芯科技LightSense
发布2024-08-03 10:50:59
700
发布2024-08-03 10:50:59
举报
文章被收录于专栏:睐芯科技LightSense

翻电脑里面的资料,看到2020年的一篇JENOPTIK的“用于光子集成电路大批量晶圆级测试的光电探针卡”报告。

当时肯定没有仔细看~~~原因前两天给大家汇报过了:关于硅光的几点想法

图片
图片

挑战——亚微米的对准

图片
图片
图片
图片
图片
图片
图片
图片
图片
图片
图片
图片
图片
图片

1. 没明白Alignment loop是什么意思?

2. 光栅的硅光芯片,多通道IO,封装用的光纤阵列的每根光纤相对位置精度是不是也要求亚微米?这太难了吧。

本文系转载,前往查看

如有侵权,请联系 cloudcommunity@tencent.com 删除。

本文系转载前往查看

如有侵权,请联系 cloudcommunity@tencent.com 删除。

评论
登录后参与评论
0 条评论
热度
最新
推荐阅读
领券
问题归档专栏文章快讯文章归档关键词归档开发者手册归档开发者手册 Section 归档