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社区首页 >专栏 >半导体晶圆图谱缺陷检测数据集VOC+YOLO格式11720张8类别

半导体晶圆图谱缺陷检测数据集VOC+YOLO格式11720张8类别

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云未归来
发布2025-07-22 14:17:21
发布2025-07-22 14:17:21
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数据集格式:Pascal VOC格式+YOLO格式(不包含分割路径的txt文件,仅仅包含jpg图片以及对应的VOC格式xml文件和yolo格式txt文件)

图片数量(jpg文件个数):11720

标注数量(xml文件个数):11720

标注数量(txt文件个数):11720

标注类别数:8

标注类别名称(注意yolo格式类别顺序不和这个对应,而以labels文件夹classes.txt为准):["Center","Donut","Edge-Loc","Edge-Ring","Loc","Near-full","Random","Scratch"]

每个类别标注的框数:

Center 框数 = 2147

Donut 框数 = 555

Edge-Loc 框数 = 4050

Edge-Ring 框数 = 2421

Loc 框数 = 2400

Near-full 框数 = 149

Random 框数 = 866

Scratch 框数 = 1673

总框数:14261

使用标注工具:labelImg

标注规则:对类别进行画矩形框

重要说明:暂无

特别声明:本数据集不对训练的模型或者权重文件精度作任何保证,数据集只提供准确且合理标注

图片预览:

标注例子:

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原始发表:2025-06-08,如有侵权请联系 cloudcommunity@tencent.com 删除

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