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从 LTZ1000 内部结构看 GM7402 设计细节

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云深无际
发布2026-01-07 13:22:40
发布2026-01-07 13:22:40
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昨天不是写了基准源吗?我看了下,里面有一些小参数,它们微小,但是对待最终的结果有不小的影响:

看着三个参数
看着三个参数

看着三个参数

低漂移 0.8 ppm/°C(典型值),1.5 ppm/°C(最大值)”是 GM7402 最核心的技术指标之一,反映了它的温度稳定性(Temperature Coefficient of Output Voltage, TC₍Vₒ₎)

PPM扫盲

“PPM” 是 “Parts Per Million” 的缩写,中文意思是 “百万分之一”。这是一个常用的相对比率单位,用来表示极小的误差、浓度或漂移量。它相当于:

不同PPM(温度漂移系数)下的基准电压漂移示意图
不同PPM(温度漂移系数)下的基准电压漂移示意图

不同PPM(温度漂移系数)下的基准电压漂移示意图

横轴:温度(-40°C 到 +140°C)

纵轴:输出电压变化量(单位 µV,相对于 25°C 的参考点)

可以看到:

1 ppm/°C 的漂移极小,几乎是一条平线;100 ppm/°C 则随温度变化明显,温度升高会导致电压漂移约 ±16 µV;PPM 值越大 → 稳定性越差、温漂越严重。这张图直观说明了 “PPM 就是温度导致的相对变化速率”。

温漂的定义

“温漂”表示当环境温度变化时,基准电压输出的偏移量。 以 ppm/°C 为单位(百万分率每摄氏度),定义为:

其中:

:输出电压随温度变化的差值(V)

:标称输出电压(V)

:温度变化(°C)

代入 GM7402 的实际数值举例

假设输出 Vout = 2.5 V,温度范围 –55 °C → +125 °C(ΔT = 180 °C):

典型漂移 0.8 ppm/°C:

最大漂移 1.5 ppm/°C:

也就是说,在从 –55°C 到 +125°C 的极端环境变化中,输出电压的漂移仅为 ±0.36 ~ 0.68 mV;对应到 5 V 输出时也只约 ±0.7 mV ~ 1.35 mV

工程意义

TL431
TL431

TL431

ADR445
ADR445

ADR445

对比对象

温漂等级

实际表现

应用领域

一般工业级基准(如 TL431)

30–100 ppm/°C

温度变化几乎毫伏级漂移(数十 mV)

电源参考

高精度带隙(如 ADR445、REF5050)

2–3 ppm/°C

全温区漂移 1 ~ 2 mV

工业/仪表

GM7402(深埋齐纳)

0.8–1.5 ppm/°C

全温区漂移 < 1 mV

实验室级/医疗/车规

这意味着:

在 16~24 bit ADC 中,参考误差对输出数据几乎不可见;系统无需温度补偿环路即可维持满量程精度;在医疗、计量、导航、车载传感器系统中无需外部热校准。

为什么能做到 0.8 ppm/°C

GM7402 相比前代(GM7400/7401 约 1.5 ppm/°C typ)能进一步降低温漂,关键在于:

采用深埋齐纳(Buried Zener)核心:齐纳击穿电压在特定电流下对温度几乎不敏感(天然接近平坦曲线)。

什么是深埋齐纳(Buried Zener)核心?

我直接搜索了一下。。。没想到有一篇文章还挺靠前:

就这个了
就这个了

就这个了

不是吧?我都忘了这个是我写的了。。。
不是吧?我都忘了这个是我写的了。。。

不是吧?我都忘了这个是我写的了。。。

这是过年时候写的。

深埋齐纳二极管(Buried Zener Diode)

是一种专门设计的 高稳定性参考二极管结构,用于提供极其稳定的基准电压;它是通过在硅片内部深层掺杂与隔离结构实现的 “埋入型齐纳结”,与普通表面齐纳有本质不同。

普通齐纳(表面型)是在硅片表面形成 PN 结;深埋齐纳, 是把齐纳结“埋”在基片下面(通常深几微米),远离表面电荷与氧化层界面,从而:降低噪声;提高温度稳定性;抑制老化与漂移。

结构原理(剖面概念图)

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        表面层 ──────────────────── ← 这里是金属接触与保护层
             │
             │  <— 表面杂质区(P+)
             │
        ─────┼────────────────────  ← 绝缘层(Field Oxide)
             │
             │
             ▼
         ┌──────────────┐
         │   P+ 区域     │ ← 齐纳结上端
         │──────────────│
         │   N++ 区域    │ ← 齐纳结下端(埋层)
         └──────────────┘
             │
             │
        ─────┴────────────────────  ← 基片(P型)

特点:齐纳结埋在深层(通常 >3 µm);上下有多层隔离,减少表面电荷影响;采用 N++ / P+ 高掺杂形成“隧穿式反向击穿”;击穿电压约 6.8–7.2 V,在这个范围内温度系数接近零

温度补偿机理

深埋齐纳的核心优势在于其零温度系数点(ZTC,Zero Temp Coefficient Point)。

击穿电压受两种效应影响:

  1. 齐纳效应(隧穿击穿):电压随温度上升而略减小
  2. 雪崩效应(碰撞电离):电压随温度上升而略增加

约 6.8 V 附近,两种效应抵消 → 温度漂移趋近 0;因此,深埋齐纳基准通常工作在 6.9 V 附近,再经分压放大或缓冲输出为常见的 2.5 V、5 V 等精密基准电压。

这方面的佼佼者是:

这颗活爹基准源
这颗活爹基准源

这颗活爹基准源

看懂我上面写的 PPM 就会知道:

这个参数的含金量
这个参数的含金量

这个参数的含金量

这个画住的地方就是二极管的位置
这个画住的地方就是二极管的位置

这个画住的地方就是二极管的位置

TO-5 的封装可以看的更加的清晰
TO-5 的封装可以看的更加的清晰

TO-5 的封装可以看的更加的清晰

开盖图
开盖图

开盖图

芯片内部全貌,显示两个主要功能区——基准源区与加热区。

核心结构:齐纳二极管 + 晶体管 Q1→ 二者形成温度互补组合,输出稳定电压。

Q2 是温度传感器,用来检测芯片内部温度,控制加热器。

芯片内部还有寄生二极管,用来隔离加热电流对参考区的干扰。

三条金线连接到加热器的正极端(引脚 1),这意味着它是高电位节点。→ 这种设计避免了加热电流对内部电势平衡的破坏。

图片含义总结:

  1. 金线连接图:显示三重金线连接加热器正极;
  2. 芯片封装剖析:揭示基板与引脚 4 间的 100 Ω 电阻隔离;
  3. 说明加热区与参考区隔离的电气理由
加热器环形结构
加热器环形结构

加热器环形结构

多个绿色环形结构围绕中央核心,这些绿色环是 加热电阻环(heater rings):外层两圈并联形成主加热器;内层四圈可独立控制;内外环之间通过键合点串/并连接,便于温控优化;右上角另有一块基板接触垫,用于监控加热均匀性。

这些环状加热结构能实现极低的温度梯度(≈0.01°C),确保齐纳与晶体管在完全一致的温度下工作。

核心“埋入式齐纳 + 晶体管”区

中央部分放大图,彩色层区清晰标出 Zener 与 Q1 结构。

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结构说明:

蓝色点:晶体管 Q1 的发射极;

黑色环:Q1 的基极(也是齐纳阳极);

红线:齐纳阴极;

白线:Q1 集电极;

黄色/灰色线:温度检测晶体管 Q2。

关键原理:

齐纳结(雪崩击穿)与 Q1 的 BE 结(负温度系数)互相补偿;组合输出约 7V,温漂几乎为 0;两者必须紧贴放置以维持温度一致;齐纳为深埋式(Buried Zener),避开表面杂质与氧化界面,降低长期漂移。

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它的基本思想是:

利用齐纳击穿的正温度系数与晶体管 BE 结的负温度系数相互补偿,实现几乎零温漂的输出电压。

元件

颜色标识

功能

蓝色点

晶体管 Q1 的发射极(Emitter)

输出参考电压

黑色环

Q1 的基极,同时也是齐纳二极管的阳极

热、电信号耦合中心

红色线

齐纳阴极

击穿区输出端

白色线

晶体管集电极

提供偏置电流路径

黄色/灰色线

Q2 温度传感器(周边四个晶体管)

控制内部加热温度

整个结构呈 同心环布局

中心:Zener + Q1 组合;

外圈:4 颗 Q2 温度监测晶体管;

更外圈:加热环(见前面的图);

所有结区被 粉红色的 P-N 隔离框 环绕,用以电隔离并减少漏电流。

使用 LTZ1000 再说一次原理

齐纳部分

采用 深埋结构(Buried Zener),其有源区位于表面以下几微米;工作在 雪崩击穿模式(约 6.9 V);由于击穿电压随温度上升略增(正温度系数)。

晶体管 Q1 部分

BE 结电压随温度上升而下降(负温度系数);将其与齐纳电压串联后,总温度系数接近 0;因此组合输出非常稳定(约 7.15 V)。

热耦合

两者直接相邻放置,热耦合紧密;确保任何温度波动同步影响两者;外层加热器维持稳定温度(通常 50°C–70°C)。

整体基准电压输出:

在约 6.9 V 附近达到温度系数为零的点。

齐纳发光现象

齐纳在雪崩击穿时的微光照片

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在雪崩击穿(工作电流≈4 mA)时,载流子复合产生可见光;发光位置表明击穿区位于环下方(即深埋层内部);亮光集中在缺陷点 → 表明能量主要集中在单一区域;还可看到 Q1 的发射结也微弱发光(亮度较低),发光均匀性代表结区质量好。

这些照片揭示了雪崩击穿区的位置与均匀性,可用于评估器件内部质量与失效点。

过载损伤

被损坏的 LTZ1000 芯片

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过大电流导致内部环形端子与齐纳结烧毁;绿色加热环金属层剥落;灰白色斑点为烧蚀区;加热器区域也受到热冲击损伤。

强调 LTZ1000 在雪崩区工作时必须严格限流,否则热击穿极易永久损坏芯片。

二阶曲率补偿:在带隙补偿支路中加入二阶温度项,修正非线性弯曲。(这个我昨天就写过了)

总结

“低漂移 0.8 ppm/°C(典型值),1.5 ppm/°C(最大值)”,意味着 GM7402 的输出电压在整个 –55 °C ~ +125 °C 范围内几乎不随温度变化,这个参数确实是很厉害了。

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GM7400(1.5 ppm/°C):漂移曲线斜率最大,温度变化 180 °C 时约 ±0.68 mV。

GM7401(1.35 ppm/°C):略优,漂移减少约 10–15%。

GM7402(0.8 ppm/°C,深埋齐纳架构):曲线几乎水平,全温区漂移仅 ±0.36 mV。

这说明随着架构演进(带隙 → 低压带隙 → 深埋齐纳复合),温度稳定性提升约 2 倍,体现 GM7402 已进入准实验室级稳定区。因为网上只有老外给 LTZ1000 的开盖图,国内只能说用了这样的架构,但是也不知道具体设计是怎么样的,但是还是蛮有参考意义的,至少看到了齐纳二极管,不是吗?

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原始发表:2025-10-19,如有侵权请联系 cloudcommunity@tencent.com 删除

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  • PPM扫盲
  • 温漂的定义
  • 代入 GM7402 的实际数值举例
    • 典型漂移 0.8 ppm/°C:
    • 最大漂移 1.5 ppm/°C:
  • 工程意义
  • 为什么能做到 0.8 ppm/°C
    • 什么是深埋齐纳(Buried Zener)核心?
    • 深埋齐纳二极管(Buried Zener Diode)
    • 结构原理(剖面概念图)
    • 温度补偿机理
    • 核心“埋入式齐纳 + 晶体管”区
    • 使用 LTZ1000 再说一次原理
      • 齐纳部分
      • 晶体管 Q1 部分
      • 热耦合
    • 齐纳发光现象
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