DIO测试

作者简介： 一个平凡而乐于分享的小比特，中南民族大学通信工程专业研究生在读，研究方向无线联邦学习 擅长领域：驱动开发，嵌入式软件开发，BSP开发 作者主页：一个平凡而乐于分享的小比特的个人主页 文章收录专栏：RK3568驱动开发，本专栏为rk3568驱动开发学习记录 欢迎大家点赞 👍 收藏 ⭐ 加关注哦！💖💖

1.硬件原理图说明

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2. Din测试

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按照上图的说明方法，将Din-0短接GND,此时Din-0输出低电平，测量R6114两侧的电压值，红表笔接一侧，黑笔接地。此时可以发现万用表显示电压为0.17v左右。其他的三个Din均是相同的方法。

注意：为什么不是0V而是0.17v的微弱电压？

因为从下图可以看出光耦内置三极管的CE结，饱合导通时会存在一定的压降，这个0.17v即为压降。

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3. Dout测试

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如上图所示连接好电路，以Dout-0为例说明，其他的Dout的测试方法均相同

输入gpioset 0 4=0，使gpio输出为低电平，用万用表测试R6211两端的电压正常情况均为0v。

输入gpioset 0 4=1，使gpio输出为高电平，用万用表测试R6211两端的电压正常情况均为3.3v。

注意：在RK3568上如果某个gpio没有被复用，默认情况下该引脚的模式是gpio模式，但是此处的GPIO0_PA4例外，所以需要在设备树中特殊配置一下该引脚使用gpio模式。

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4. Dout/ Din 联合测试

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如上图所示将Din与Dout连接好，通过改变Dout的输出电平，检测Din是否收到对应的电平，以Din-0和Dout-0为例说明

输入gpioset 0 4=0 gpioget 3 3,显示Din-0的电平应为0

输入gpioset 0 4=1 gpioget 3 3,显示Din-0的电平应为1