一、300-mm 硅光子平台:CMOS 工艺融合的底层架构设计
三星此次推出的 300-mm 硅光子平台是以SOI 晶圆为衬底,采用顶层 305 nm 硅层与 2 μm 厚埋氧层的基础结构,深度融合成熟 CMOS 工艺与光子器件制造技术,兼容光、电器件的异构集成与先进封装。平台的核心工艺设计围绕O-band光信号的传输、调制、探测与系统集成四大维度展开,形成了标准化、可量产的工艺体系。

在波导与耦合结构制备上,平台通过三次硅刻蚀工艺完成硅光栅耦合器与硅波导的图形化定义,随后沉积并刻蚀 400 nm 厚氮化硅(SiN)层,实现低损耗 SiN 波导与端面耦合器的制备。为提升光纤耦合效率,平台通过去除后端金属布线(BEOL)层,采用氧化物填充腔体,并引入底切(undercut)与深沟槽(deep trench)结构,优化光场耦合的空间匹配。
针对调制器与光电探测器的核心 PN 结结构,平台通过多步离子注入工艺实现精准掺杂,同时利用锗的选择性外延生长技术,完成波导型高速光电探测器(HSPD)与监测光电探测器(mPD)的制备,实现光信号到电信号的高效转换。
在热调控与系统集成层面,平台集成带掏空选项的钨(W)加热器,为热光移相器提供高效的温度调控能力,解决光子器件的温度敏感性问题;将金属 - 绝缘体 - 金属(MIM)电容集成至四层金属层的 BEOL 工艺中,保障系统的电源完整性。同时,平台集成硅通孔(TSV)与凸点结构,实现与电子集成电路(EIC)、中介层、封装基板及印刷电路板(PCB)的外部互连,为共封装光学(CPO)等先进封装方案提供硬件支撑,打通光子器件从芯片到系统的连接链路。
二、全品类光子器件:无源与有源的高性能技术突破
依托 300mm 硅光子平台,三星完成了全品类无源与有源光子器件的研发与性能验证,器件覆盖 O 波段光互连应用需求,在传输损耗、调制效率、探测灵敏度与高速特性上均实现关键突破,为光互连模块的开发提供了核心器件基础。
(A)无源器件:低损耗、宽频带的光信号传输与调控
无源器件作为光信号传输的基础,其损耗与带宽直接决定光互连链路的整体性能。三星该平台的硅单模 TE 条形波导、SiN 单模 TE 条形波导与硅单模 TE 脊形波导的传播损耗分别低至 1.2 dB/cm、0.4 dB/cm 与 0.7 dB/cm,实现了光信号的低损耗长距离传输;硅与 SiN 波导间的 TE 模式转换损耗小于 0.1 dB,为不同波导结构的集成提供了低损耗衔接方案。
光栅耦合器作为光芯片与光纤的核心接口,平台开发了 1D 硅、2D 硅与 1D SiN 三款产品,兼顾耦合效率与带宽特性:1D 硅光栅耦合器峰值耦合损耗 1.9 dB,1-dB 带宽 27 nm;2D 硅光栅耦合器实现 TE 与 TM 双模兼容,耦合损耗 2.4 dB,1-dB 带宽 17 nm;1D SiN 光栅耦合器则以 2.1 dB 的峰值耦合损耗实现 57 nm 的 1-dB 宽带宽,满足高速宽带光互连的应用需求。
此外,平台开发的双环滤波器(DRF)drop-port 插入损耗小于 1.0 dB,1-dB 带宽达 105 GHz,为波长选择与信号滤波提供了高性能解决方案。


(B)有源调制器件:高效率、高速率的电光转换


平台基于锗材料开发了全系列光电探测器件,包括 HSPD、mPD 与雪崩光电二极管(APD),实现了从常规探测到高灵敏度探测的全覆盖。HSPD 与 mPD 在 - 1 V 偏置电压下,暗电流均低于 10 nA,响应度接近 1 A/W,兼顾低噪声与高探测效率;针对高灵敏度需求设计的 APD,在 - 1 V 偏置下暗电流约 1 μA,响应度超 3 A/W,光电 S21 3-dB 带宽达 20 GHz,而 HSPD 的光电 S21 3-dB 带宽则高达 50 GHz,满足高速光信号的探测需求。

在此基础上,三星进一步在该平台开发出 MRA-Ge APD,解决了传统 APD 高工作电压与 HPC 低功耗需求的矛盾。该器件将 7 μm 半径的微环谐振器(MRR)与 180 nm×400 nm 沟槽的选择性外延锗层集成,采用横向分离吸收、电荷和倍增(SACM)结构,锗区面积达亚 μm² 级别。

性能方面,在 - 1.0 V 偏置下,MRA-Ge APD器件在谐振波长处的响应度达 0.82 A/W,非谐振波长处响应度降低一个数量级,串扰约 10 dB;在低至 - 6.1 V 的偏置电压下实现 7.5 倍的雪崩增益,且在 300mm 晶圆上展现出良好的暗电流与雪崩增益均匀性。其光电带宽在 - 6.1 V 时为 22 GHz,-6.5 V 时提升至 46 GHz,增益带宽积(GBP)分别达 165 GHz 与 253 GHz,为低电压、高灵敏度的高速光探测提供了潜在解决方案。



三、基于 MRM 的片上校准技术创新
基于平台的 MRM 核心器件,三星联合延世大学在 OFC 2026 发布了 224-Gb/s 硅光子 WDM 发射器,针对 MRM 谐振特性对温度敏感、光学调制幅度(OMA)峰值与 PAM4 线性度(RLM)最优条件不匹配的行业痛点,提出代码控制的双目标校准技术,实现了 OMA 锁定与 RLM 优化的片上同步完成,无需外部数字信号处理(DSP)或现场可编程门阵列(FPGA),为高密度 WDM 光发射模块提供了低复杂度、高稳定性的解决方案。

该发射器采用光子集成电路(PIC)与电子集成电路(EIC)共集成架构,PIC 内集成 4 个级联 MRM 构成四通道 WDM 发射核心,EIC 则集成码型发生器、串行器、时钟分配网络、监测电路与校准控制器,实现光信号调制与片上校准的一体化。
校准过程分为两步:首先通过代码控制的加热器搜索,监测集成光电探测器的平均光功率,锁定实现 OMA 最大化的加热器工作点,解决 MRM 的温度漂移与谐振失配问题;随后以预定义代码序列采集低通滤波(LPF)输出电压,获取 V_OMA 与参考电压 V_REF,以 V_REF±1/3V_OMA 为 RLM=1 的理想条件,通过自适应调整 MRM 驱动器的上拉(wPU)与下拉(wPD)权重,均衡 PAM4 调制的中间电平,实现 RLM 的优化。

测试结果显示,该校准技术有效解决了 PAM4 电平失衡问题:校准前 12.5 Gb/s 与 56 Gb/s 速率下 RLM 分别仅为 0.452 与 0.748,校准后提升至 0.966 与 0.965 以上;四通道均实现 56 Gb/s 的 PAM4 信号传输,聚合吞吐量达 224 Gb/s,且各通道性能均匀,成为业界首个实现片上同时锁定 OMA 与优化 RLM 的 WDM 发射器,适配 CPO 等高密度封装的光互连应用。
四、全功能 PDK:从设计到制造的无缝衔接支撑
为推动 300-mm 硅光子平台的产业化应用,三星配套开发了符合代工厂标准的全功能 PDK,该 PDK 与行业标准电子设计自动化(EDA)工具深度集成,覆盖光子集成电路设计、仿真、验证全流程,为客户提供了从器件设计到晶圆制造的一站式支撑,是平台实现规模化应用的核心保障。
PDK 的核心能力体现在三大方面:一是丰富的器件模型库,包含超 40 种光互连核心光子器件的 SPICE 兼容光学仿真模型,为光电路设计提供了标准化基础模块;二是全维度的仿真能力,支持纯光学仿真与光 - 电协同仿真,仿真格式兼容标准 SPICE 与网表,可精准模拟光信号的传输与调制特性;三是完整的设计验证流程,集成设计规则检查(DRC)、版图与原理图一致性检查(LVS)、寄生参数提取(PEX)等验证 deck,保障设计的可制造性。

针对 MRM 等核心器件的复杂物理特性,PDK 的器件模型框架进行了精细化建模,涵盖 25℃至 85℃的环境温度依赖性、PN 结电学特性,以及自由载流子吸收(FCA)引发的自热效应、基于光peaking效应的电光 S21 带宽随失谐波长的变化规律,实现了模型与硬件的高度相关性(MHC)。通过将 MRM 的电光小信号响应建模为基于方程的 RLC 等效电路,PDK 可精准复现所有参数化单元(P-cells)的硬件行为,其模拟的 50 Gbaud PAM4 信号眼图,可清晰展现 3-dB 与 6-dB 滚降波长下带宽与线性度的权衡关系,为器件与模块的优化设计提供了精准的仿真依据。
五、技术价值与应用前景
三星在 OFC 2026 披露的 300-mm 硅光子平台及相关器件成果,核心价值在于实现了硅光子技术与成熟 300-mm CMOS 工艺的深度融合,既继承了 CMOS 工艺的高量产性、高均匀性与低成本优势,又通过光子器件的创新设计实现了 HPC/AI 光互连的高带宽、低功耗需求。平台从底层工艺、核心器件到模块应用、设计工具形成全栈式布局,解决了硅光子技术从实验室研发到产业化应用的关键瓶颈。
在应用层面,该平台可广泛适配 AI 数据中心的内 / 外互连、HPC 系统的高速光链路、共封装光学等场景:300mm 的晶圆尺寸保障了大规模量产的产能需求,低损耗波导与高速调制 / 探测器件支撑了 100G 以上的高速光信号传输,片上校准技术与低电压 APD 则进一步降低了系统的复杂度与功耗。此次三星的技术披露,不仅展现了其在硅光子领域的全链条技术实力,也为全球 HPC/AI 光互连技术的发展提供了标准化、可量产的硅光子平台解决方案,推动光互连技术向更高带宽、更高集成度、更低功耗方向演进。
作为三星在 AI 算力赛道的核心技术布局,该 300-mm 硅光子平台依托三星在半导体制造、先进封装领域的技术积累,实现了光、电、封的一体化协同设计,未来有望与三星的高带宽存储(HBM)、先进制程芯片等技术融合,打造从计算、存储到互连的全栈式 AI 算力硬件解决方案,成为其在全球 AI 芯片代工与算力基础设施市场竞争的重要技术底牌。