半导体高低温测试机典型应用介绍

半导体高低温测试机也称为气体制冷加热控温系统、高低温冲击气流仪、热流仪等，采用流体温度控制技术，在元器件半导体行业进行各种温度测试模拟应用，控温范围-92℃~250℃，具有宽的温度方向和高温升降，适用于各种测试要求。

冠亚制冷半导体高低温测试机适用于电子元件的准确温度控制，在用于恶劣环境的半导体电子组件制造中，IC封装组装、工程和生产测试阶段包括电子热测试和其他温度（-45℃至+250℃）下的环境测试模拟。一旦投入实际使用，这些半导体器件和电子产品可以暴露在严苛的环境条件下，以满足苛刻的可靠性标准。

一、高精度制冷加热控温系统

温度控制范围：-85℃~+250℃

温度控制精度：±0.3℃

应用领域：研究院、航空航天、半导体和电气工业、大学、新材料工业、IC芯片测试、电路板、元器件测试等领域。

温度范围以及型号：

TES-45℃～250℃：TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W等；

TES-85℃～200℃：TES-8525W、TES-8555W等；

TES-60℃～200℃：TES-6A15WPEX、TES-6A15WDEX、TES-6A25WPEX、TES-6A25WDEX、TES-6A45WPEX、TES-6A45WDEX、TES-6A60WPEX、TES-6A60WDEX；

二、氟化液制冷加热控温系统

温度控制范围：-80℃~+80℃

温度控制精度：±0.1℃

应用于半导体和电气工业、新材料工业、IC芯片测试、电路板、元器件测试等领域。

温度范围以及型号：

LTS-20℃～80℃ ：LTS-202、LTS-202W、LTS-203W、LTS-204W、LTS-206W、 LTS-203、LTS-204、 LTS-206、 LTS-208、LTS-208W；

LTS-40℃～80℃ ：LTS-402、LTS-403、 LTS-404、 LTS-406、 LTS-408、LTS-402W、 LTS-403W、 LTS-404W、 LTS-406W、 LTS-408W；

LTS-60℃～80℃ ：LTS-602、 LTS-603、 LTS-604、 LTS-606、 LTS-608、LTS-602W、 LTS-603W、 LTS-604W、 LTS-606W、 LTS-608W；

LTS-80℃～80℃：LTS-802、 LTS-803、 LTS-804、 LTS-806、 LTS-808、LTS-802W、 LTS-803W、 LTS-804W、 LTS-806W、 LTS-808W；

三、高低温冲击测试机

温度控制范围：-115℃~+225℃

温度控制精度：±0.5℃

射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供准确且快速的环境温度。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估的仪器设备。

温度范围以及型号：

-45℃～225℃：AES-4535、AES-4535W；

-60℃～225℃：AES-6035；

-80℃～225℃：AES-8035W ；

-100℃～225℃： AES-A1035W；

-115℃～225℃：AES-A1235W；

四、AI循环风控制系统

温度控制范围：-105℃~+125℃

温度控制精度：±0.2℃

应用于半导体设备高低温测试；电子设备高温、低温、恒温测试冷热源；独立的制冷循环风机组；可连续长时间工作，自动除霜，除霜过程不影响库温。

温度范围以及型号：

-65℃～+125℃：AI-6535、AI-6535W ；

-80℃～+125℃：AI-8035W

-105℃～+125℃：AI-1055W

五、小型气体制冷机

温度控制范围：-110℃~-40℃

应用于将无腐蚀性气体降温使用，如干燥压缩空气、氮气、氩气等常温气体通入到LQ系列设备内部，出来的气体即可达到目标低温温度，供给需求测试的元件或者换热器中。