开尔文测试座是在电子制造行业中广泛使用的一种设备,它对于芯片的快速验证和测试至关重要。本文将探讨开尔文测试座的特性和应用。
开尔文测试座的适用范围
开尔文测试座适用于各种封装类型,包括BGA,QFN,DFN,LGA,QFP,SOP等,这使其能够满足各种类型的电子设备测试需求。无论是手动测试还是机器测试,这种测试座都能提供精确和可靠的结果。其探针可更换,维修方便,成本低,适用于间距0.4mm-1.27mm的设备。
开尔文测试座的材料
测试座的主体材料通常是Ceramic PEEK,pps,Torlon,PEI,Vespel SP-1等高性能塑料,座头材料一般使用AL,Cu,POM等。这些材料的选择使得测试座在各种环境条件下都能保持良好的性能。
开尔文测试座的性能
开尔文测试座使用弹簧探针作为导电材质。它的工作温度范围广泛,从-55°C到155°C,这使得它能在各种环境条件下工作。测试座的探针寿命长,通常可以达到100万次以上,这也取决于具体的测试条件。探针的弹力在每个Pin为20g ~ 30g之间,确保了在测试过程中的稳定性和可靠性。
开尔文测试座的电性能
开尔文测试座具有优秀的电性能。它支持的电流达到8A(每个PIN支持4A),电阻仅为50mΩ,频宽可以达到10GHZ @-1db,这使得它在高速、高频的电子设备测试中表现出色。
总的来说,开尔文测试座是一种强大且灵活的测试工具,适用于各种电子设备的测试。它的设计和制造都注重质量和性能,使得在任何测试条件下都能提供精确和可靠的测试结果。其易于更换和维修的特性,以及在各种环境条件下的高性能,使其在电子制造行业中得到了广泛的应用。
深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于:BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座。
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