开尔文测试座：一种多功能、高效率的电子设备测试工具-欣同达

开尔文测试座是在电子制造行业中广泛使用的一种设备，它对于芯片的快速验证和测试至关重要。本文将探讨开尔文测试座的特性和应用。

开尔文测试座的适用范围

开尔文测试座适用于各种封装类型，包括BGA，QFN，DFN，LGA，QFP，SOP等，这使其能够满足各种类型的电子设备测试需求。无论是手动测试还是机器测试，这种测试座都能提供精确和可靠的结果。其探针可更换，维修方便，成本低，适用于间距0.4mm-1.27mm的设备。

开尔文测试座的材料

测试座的主体材料通常是Ceramic PEEK，pps，Torlon，PEI，Vespel SP-1等高性能塑料，座头材料一般使用AL，Cu，POM等。这些材料的选择使得测试座在各种环境条件下都能保持良好的性能。

开尔文测试座的性能

开尔文测试座使用弹簧探针作为导电材质。它的工作温度范围广泛，从-55°C到155°C，这使得它能在各种环境条件下工作。测试座的探针寿命长，通常可以达到100万次以上，这也取决于具体的测试条件。探针的弹力在每个Pin为20g ~ 30g之间，确保了在测试过程中的稳定性和可靠性。

开尔文测试座的电性能

开尔文测试座具有优秀的电性能。它支持的电流达到8A(每个PIN支持4A)，电阻仅为50mΩ，频宽可以达到10GHZ @-1db，这使得它在高速、高频的电子设备测试中表现出色。

总的来说，开尔文测试座是一种强大且灵活的测试工具，适用于各种电子设备的测试。它的设计和制造都注重质量和性能，使得在任何测试条件下都能提供精确和可靠的测试结果。其易于更换和维修的特性，以及在各种环境条件下的高性能，使其在电子制造行业中得到了广泛的应用。

深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座。