研发效能度量-线上缺陷密度

线上缺陷密度是软件质量管理中的一个重要指标,它反映了软件产品上线后实际存在的缺陷数量。

计算公式：线上缺陷密度 = 线上发现缺陷数量 / 软件产品的代码总行数

计算单位：百分比

涉及阶段：发布

统计周期：

按照月度统计缺陷数量汇总到责任团队

按照版本统计缺陷数量汇总到责任团队

使用线上缺陷密度作为软件质量指标,有以下几个弊端

被动度量：线上缺陷密度需等上线后才能获取数据,有滞后性。

数据不直观：通常情况下缺陷数量很小，代码行数很多，所以数值小，数值区分度低，不明显。比如 10/20w=0.00005

影响因素多：如代码行的统计方式、系统大小、测试时间长短等要素都会影响结果。

可被操纵：通过避免复杂代码或减少上线代码行数来人为降低缺陷密度

难设定通用标准：不同类型系统的可接受缺陷密度标准差异很大

不考虑定性因素。如代码可读性、复杂度、系统架构质量等因素。

难以归因分析。缺陷是开发制造还是测试遗漏,线上数据难以判定。

难以预测趋势。线上缺陷受多因素影响,历史数据难以简单预测。

昨天最让我震惊的是看到一句话：研发效能度量最大的意义就是可以作为领导打 C 绩效的依据，降低了领导打 C 绩效的成本。看完后，顿时不淡定了，感到浑身不自在。