半导体X-RAY检测设备都有哪些功能呢？-瑞茂光学

在半导体行业，精确的缺陷检测对于保证产品质量和性能至关重要。随着技术的不断进步，半导体X-RAY检测设备已成为这一任务的关键工具。这类设备通过将缺陷几何放大高达450X，配合检测图像系统的2500X放大功能，能够精确识别并分析微小的结构缺陷。

功能优势

1. CNC程序：这一功能支持自动批量检测样品的不同位置，极大提高了检测效率和精度。

2. 阵列功能：它能自动批量检测位置固定、间距相同的样品，简化了复杂的检测流程。

3. 气泡测量：一键测量气泡大小及空洞率，对于判断材料完整性尤为关键。

4. 长度、宽度测量：这项功能使得测量部分检测区域的长度和宽度变得简单而准确。

5. 可视化导航界面：通过精准定位检测位置，用户能更直观地操作设备。

6. 模拟颜色：通过改变颜色，用户能更好地观察和解读检测图像。

独特优势

- 自动化操作：自动ON/OFF X-RAY光管批量检测样品，减少了人工操作的需要，提高了工作效率。

- 高精度光管：搭配X-G-311RAY光管，检测精度可达1um，这对于需要极高精度检测的半导体行业来说，是一个巨大的进步。

- 高分辨率数字X-RAY平板：这一平板能提供更清晰、更详细的图像，帮助识别更细小的缺陷。

- 多样化的载物台：不仅能容纳大量各种尺寸的样品，还可选配360°旋转功能，使得检测更加全面。

- 观测角度灵活：允许60°倾斜观测，增加了检测视角的多样性，使得检测结果更全面。

总而言之，半导体X-RAY检测设备以其高度的自动化和精密度，正在为半导体行业带来革命性的变化。随着技术的不断进化，我们可以期待这些设备在未来发挥更大的作用，确保半导体产品的高标准和高质量。

瑞茂光学(深圳)有限公司(SXRAY) 创建于2012年，通过多年诚实守信和认真严谨的经营，已高速发展成集设计、生产、加工、贸易、工程为一体的大型专业X-RAY设备厂家。产品了通过ISO9001：2000质量管理体系及ISO14001：2004.CE,环境管理体系世界标准认证。致力于工业(无损探伤)方案探索，开发研制高性价比的X-RAY系统是我们一如既往的目标。