常见的平面度测量方法

常见的平面度测量方法

很多行业都需要测量产品的平面度，不同的行业可能需求不一样，下面是祥宇小黎为大家整理的几种常用的平面度测量方法，希望能对你有用。

平面度，是属于形位公差中的一种，指物体表面具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。在传统的检测方法中，平面度的测量通常有：塞规/塞尺测量法、激光平面干涉仪测量法、打表测量法以及祥宇的激光测量仪。

塞尺测量法

只需一套可随身携带的塞尺就可随时随地进行平面度的粗测。目前很多工厂仍使用该方法进行检测。由于其精度不高，常规最薄塞尺为10um，检测效率较低，结果不够全面，只能检测零件边缘

塞尺测量

激光平面干

涉仪测量法

最典型的用法是平晶干涉法。但主要于测量光洁的小平面的测量，如千分头测量面，量规的工作面，光学透镜。

激光测量

三坐标测量仪

打表测量法

典型应用为平板测微仪及三坐标仪，其中优以三坐标仪为应用最广泛。测量时指示器在待测样品上移动，按选定的布点测取各测量点相对于测量基准的数据，再经过数据处理评定出平面度误差。

激光测量仪

祥宇开发平面度测量仪 ULTRA 系列，提供卓越的测量表现和性能。全系标配高精度直线导轨，采用新型传动使用专利技术，人性化的人机界面可编程自动检测，大大提高测量效率，可以快速测量平整度，大大节约人工成本，提供测量效率以及检测精度。

二次元影像测量仪

当然还有其他的平面度测量方法，例如：液平面法、水平仪/数字水平仪测量法等。有兴趣的朋友们可以查阅相关资料哦！！祥宇计量是专业的二次元测量仪方案提供商，欢迎有需要的朋友来电咨询详谈。

感谢您的阅读，祥宇计量将持续以卓越、诚信、专业的理念经营企业、服务于用户、服务于中国制造业，把中国制造的精密仪器推向全球！

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