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超详细教程!TEM、SEM电镜图片粒径测量、分布统计、Origin作图

今天带给大家的是如何分析统计SEM/TEM晶粒,所用的软件是Nano Measurer和Origin。Nano Measurer在操作方面,比Image J、DigitalMicrograph(DM)要简单很多。

它可以对电镜图片颗粒大小、长度、孔径等尺寸统计分析,自动绘制统计分布图,粒径的总结果和最终统计结果由*.txt文件输出。

Nano Measurer软件安装

解压安装包,运行Nano Measurer,选择安装语言,一直点击下一步安装,直到整个软件安装完。

关于安装中msvbvm60.dll的错误:

少数同学反馈安装时,系统会弹出关于msvbvm60.dll文件错误对话框。请选择"忽略(Ignore)",继续安装。然后将上图中的msvbvm60.dll文件复制到计算机的C:\windows\system32目录下.\

Nano Measurer使用教程

运行Nano Measurer 1.2软件,打开需要统计的SEM图片(Jpg格式),首先设置标尺,如图

注意:软件只支持*.bmp和*.jpg格式图片,对于TEM文件(一般是*.dm3),请用<DigitalMicrograph>软件打开,然后在电镜图片上鼠标右键,复制图片,再使用Windows自带的<画图>软件新建一个空白的画板,粘贴图片,最后作适当裁剪(除去空白的边幅)。

在对颗粒进行标记统计,至少需要10个数据及以上,详细步骤:

1. 打开电镜文件,在电镜图片上按住鼠标左键不放,拖动鼠标,由此确定标尺;单击菜单"设置"->"标尺",在窗口中输入标尺真实长度和单位;

2. 拖动鼠标在电镜上标示颗粒,每标示一个颗粒,程序会记录其序号和粒径,结果会在"即时报告"窗口中显示;

3. 对于效果不理想的颗粒,可将鼠标放在电镜图片的颗粒序号上,单击鼠标右键删除,或在"即时记录"窗口中选择某个颗粒序号,单击鼠标右键删除;

4. 测量粒径中,可以点击菜单"设置"->"标记",选择颗粒序号在标记线的合适位置和颜色;

5. 当被测量的颗粒总数达到10个,可以单击菜单"报告"->"查看报告";

6. 测量颗粒中,可随时在电镜图片的空白区域内,单击鼠标右键,选择菜单放大缩小电镜图片(最大放大3倍,最小缩小0.25倍);

7. 本程序缺省设定样本组数为10,在组分布时,样本的组范围确定采用上偏,即2.5落在2.5-3.0内而非2.0-2.5内。

然后点击报告,将数据生成txt文件,保存在桌面以方便查找。

Origin对粒径分布作图

按下列步骤可以实现Origin对粒径分布的快速作图:

(1)将导出文件的“统计报告”部分直接拷贝到Origin表格中(4列);

(2)设表格第2列为X轴,第4列为Y轴,然后作图。

如需要自定义组数和样本组距可如下操作:

(1)复制导出文件的"基本报告"部分至Origin表格中;

(2)选择第2列右键鼠标运行"Frequency Count"命令。

详细步骤如下:

1. 打开Origin作图软件,将txt数据复制到Origin中,注意,只要数值

4. 选中Count(Y),使数据生成柱状图(Column)

5. 对柱状图进行正态分布拟合:

6. 点击Function 的对话框的下三角标,选中Gauss

7. 再点击Fit进行拟合,得到如图

8. 再对原始数据进行求取平均值和标准差。

10. 点击OK,得到平均值和标准差

11. 对图像进行处理,即可得到我们想要的图像 

软件

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  • 原文链接https://page.om.qq.com/page/O9D-IY0g7ioJdwNwoXaxdxjQ0
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