广州维柯SIR.CAF检测系统在助焊剂残留检测中的应用

在电子产品制造过程中,助焊剂是不可或缺的一种化学品,它能够去除PCB(印制电路板)表面的氧化物和其他污染物,帮助焊料更好地流动和黏附。然而,焊接完成后残留的助焊剂可能会对PCB的性能和寿命造成负面影响,包括降低表面绝缘电阻(SIR)、加速电化学迁移(CAF)等问题。为了确保产品质量,采用高效的检测手段来评估助焊剂残留的影响变得至关重要。

本文将介绍广州维柯信息技术有限公司研发的SIR/CAF检测系统如何应用于助焊剂残留的检测与评估。

助焊剂残留的影响

助焊剂残留物主要包括聚合松香、未反应的活化剂以及焊接时松香与熔融焊料之间反应生成的盐类。这些残留物在潮湿环境下会吸收水分,导致PCB表面电阻下降,从而引发一系列问题,如漏电、短路、腐蚀等。此外,助焊剂残留物还会加速电化学迁移(CAF)的过程,这是指在湿热条件下,助焊剂残留物中的离子成分促使金属离子在电场作用下迁移,形成导电路径,从而降低电路板的绝缘性能。

SIR/CAF检测系统的应用

广州维柯信息技术有限公司研发的SIR/CAF检测系统是一种高度精准的检测工具,专门用于评估电子产品的表面绝缘电阻(SIR)和电化学迁移(CAF)的性能。该系统采用了先进的模块化设计,每个通道都能独立工作,并且支持并发测试,这意味着即使在一个长期的测试项目中,也可以灵活地添加新的测试任务。

技术特点

模块化设计:系统采用16通道组成一个模块的设计,当个别通道出现问题时,可以迅速替换而不影响其他模块的工作。

并发测试功能:支持多个任务同时进行,可以在一个测试任务执行期间,灵活地启动其他测试任务。

数据管理:系统能够实时保存所有测试数据,并提供直观的阻值曲线和趋势报告,便于数据分析。

高精度与稳定性:该系统具备出色的电流测量能力和电阻测量范围,能精确测量从1x10^6 Ω到1x10^14 Ω的阻值。

扩展性:支持通过外接电源系统扩展到更多通道,最高测试电压可达5000V。

SIR/CAF检测系统如何工作

广州维柯SIR/CAF检测系统的工作原理基于每个模块独立的恒压源输出测试电压,并通过每个通道的超微型电流表读取被测样品的电流值,根据欧姆定律计算出被测样品此时的电阻值。系统支持多种测试电压和偏压的独立设置,能够实现精确的阻值判定和失效提醒功能。

检测标准

依据IPCJ-STD-004B《助焊剂要求》的规定,焊接后的PCBA在经过表面绝缘电阻测试(85℃,相对湿度85%,168H)后,所有测试图形的绝缘电阻都必须大于1.0×10^8Ω。经过同样测试条件的电化学迁移测试后,除梳形电路导体允许有轻微的变色外,其他导体不能有明显的腐蚀现象;对于出现树枝状结晶现象的,其尺寸不应超过导线间距的20%。

应用实例

广州维柯的SIR/CAF检测系统已被多家知名电子制造企业和研究机构采用,用于评估各种电子产品中助焊剂残留物的影响。例如,联华检测技术服务(广州)有限公司和富士康科技集团就采购了多套广州维柯的SIR/CAF检测系统,用于其产品的质量控制和研发测试。

广州维柯信息技术有限公司的SIR/CAF检测系统为评估助焊剂残留物对电子产品性能的影响提供了可靠的解决方案。通过使用这一系统,电子制造企业可以更好地确保产品的长期可靠性和安全性,从而提升产品的竞争力和市场占有率。

广州维柯SIR/CAF检测系统以其独特的设计和卓越的性能,在助焊剂残留检测领域发挥着重要作用,为电子产品制造商提供了一种高效、准确的检测手段,有助于提高产品的可靠性和延长使用寿命。