真空高低温探针台是半导体测试领域的关键设备,其使用方法主要包括很多步骤,下面键德测试测量小编就来为大家介绍下。
一、准备工作
检查设备:确保真空高低温探针台的电源和气源连接正常,设备表面干净整洁无灰尘。同时,检查探针、电缆等配件是否完好无损。
佩戴防护用品:为了保护操作人员的安全,需要佩戴相应的手套、防静电手环等防护用品。
二、样品放置与定位
样品载入:将待测样品载入真空卡盘,并通过真空阀控制开关确保样品安全牢固地吸附在卡盘上。
样品定位:使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品,然后将样品待测试点移动至显微镜下。此时,可以先使用低倍物镜确定样品的大致位置,然后切换为高倍物镜进行精确定位。
三、探针调整与测试
探针安装:根据测试需求,选择合适的探针并安装在探针座上。
探针移动:使用探针座X、Y、Z三个微调旋钮慢慢地将探针移动到被测点。在移动过程中要小心谨慎,防止探针误伤样品。当探针尖端悬挂在被测点上方时,可以先用Y轴旋钮稍微后退一点,然后用Z轴旋钮下针。
接触测试:确保针尖与被测点接触良好后,可以通过连接测试设备开始测试。测试过程中要密切关注设备的运行状态和测试结果,确保测试数据的准确性和可靠性。
四、测试结束与清理
测试结束:完成测试后,将探针台拉杆抬起(如果设备具有此功能),将探针回到初始化位置,防止错误操作。
设备清理:关闭真空泵、光源、加热和制冷系统等设备的开关,断开电源和气源连接。
五、高低温环境设置(针对高低温探针台特有功能)
温度设置:根据测试需求,设置所需的温度范围。
启动加热/制冷系统:启动加热系统或制冷系统,将样品加热或冷却到所需的温度。
温度稳定:等待温度稳定后,再进行测试操作。
需要注意的是,上述步骤为真空高低温探针台的一般使用方法,具体操作步骤可能因设备和测试需求的不同而有所差异。因此,在实际操作中,应参考设备说明书和测试方案进行具体操作。
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