在半导体行业,硅锭的质量和精度直接影响最终产品的性能,因此,硅锭角度测量成为制造过程中的一个至关重要的环节。通过精确测量硅锭的角度,可以有效避免后续加工中的误差,提高产品的良率和一致性。这一检测过程通常涉及多个步骤,包括样品的准备、光学对准以及数据采集和分析等,需要在一个相对稳定的环境中进行,以确保测量结果的可靠性。
市场上针对硅锭角度测量的检测方案层出不穷,主要有机械测量、光学测量以及激光测量等多种方式。机械测量设备虽然操作简单,但在高精度要求下,往往难以满足使用需求;光学测量设备则能够提供清晰的图像,但在真实环境中容易受到光线和表面反射的干扰,从而影响测量结果。相比之下,激光测量技术凭借其非接触、高速和高精度的特点逐渐成为主流选择。在众多激光测量方案中,英国真尚有的ZLDS202-2Cam高频激光扫描仪无疑是一个出色的选择。这款高精度双目线激光轮廓扫描传感器专为二维轮廓扫描而设计,具备显著的性能优势,采用单激光线和双摄像头的设计,显著提升了复杂形状物体的扫描质量,尤其适合硅锭这种难以测量的对象。同时,ZLDS202-2Cam高速激光扫描传感器的Z轴线性度达到±0.01%,X轴分辨率高达2912点,确保了极高的测量精度。
此外,ZLDS202-2Cam激光扫描传感器具备高达4600剖面/秒的最大采样率,能够满足快速动态测量的需求,其Z轴测量范围从25mm到200mm,适应多种不同的应用场景。非接触式测量的特点使其适合各种被测体表面,减少了对物体的干扰,确保了测量的可靠性。同时,其坚固耐用设计,具备IP67防护等级,抗振性达到20g,抗冲击性为30g/6ms,能够在恶劣的工业环境中稳定运行。
与市场上其他同类产品相比,ZLDS202-2Cam激光线扫传感器在原理和性能上均具有明显优势,其非接触式的测量方式和高速采样能力,使其在高精度和高效率的需求下表现出色,极大地提升了硅锭角度测量的准确性和可靠性。
在硅锭角度测量这一关键工序中,ZLDS202-2Cam激光二维传感器为行业提供了一种全面、高效的解决方案。随着技术的不断进步,我们有理由相信,英国真尚有的这款先进测量设备将为半导体行业的质量控制提供更加坚实的保障,帮助企业在激烈的市场竞争中立于不败之地。针对特殊应用,市场上绝大多数品牌不支持定制或者无法小批量定制,有些即使能定制但费用高昂,而英国真尚有持续提供小批量、低成本定制传感器或方案,既满足了项目的特殊要求,又兼顾了低成本,直接促成了多个项目的成功。
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