液氮低温恒温器LNT-3在γ射线下半导体器件稳定性测试中

针对半导体器件在γ射线辐照环境下的低温稳定性问题，嘉仪通采用液氮低温恒温器LNT-3系统，结合精密源表与钴源辐照装置，构建了HBT器件低温辐射损伤特性测试平台。

核心设备：

液氮低温恒温器LNT-3：

• 提供连续可调的低温实验环境（控温精度±0.1K）；

• 针对钴源辐照装置兼容设计：

- 定制化样品台（方便引线）；

- 石英玻璃观测窗（透射率高）；

源表系统：

• 实现高精度I-V特性测量；

• 实时监测辐照过程中的电参数漂移；

钴源辐照装置（客户提供）：提供伽玛射线；

本方案通过液氮低温恒温器模块化设计解决了传统辐射测试中的温度控制难题，其独立样品腔室设计既可保证低温环境稳定性，又能满足辐照实验的安全距离要求，为研究低温协同辐射效应提供了可靠实验条件。