据塔斯社网4月22日报道,俄罗斯物理学家首次利用由铁磁薄膜制成的纳米膜,成功制造出能够测量自由电子自旋特性的探测器。这一成果由俄罗斯科学院西伯利亚分院半导体物理研究所完成,并将应用于西伯利亚环形光子源(SKIF)设备,未来有望助力开发新型电子显微镜。
研究人员表示,该探测器将集成到角分辨光电子能谱(ARPES)实验室装置中,并有望在 SKIF 的电子结构站中发挥重要作用。自旋是电子和其他基本粒子的量子特性之一,通常处于“自旋向上”或“自旋向下”两种状态。获取自旋状态信息对于粒子特性研究和自旋电子学开发至关重要。
尽管电子自旋特性早在1929年就已开始研究,但此前缺乏可靠且简单的测量方法,尤其是对于自由电子。俄罗斯科学家通过使用由钴和铂制成的铁磁材料纳米膜,解决了这一难题。这种纳米膜的工作原理类似于偏光太阳镜,能够“过滤”电子的自旋。
该探测器是世界上第一台具有空间分辨率的自旋探测器,其主要功能元件是自旋滤波器。与现有自旋探测器相比,其效率更高,使用寿命可达数年,且成本大幅降低。研究人员还利用该探测器创建了世界上第一个自旋三极管,为真空自旋电子学的发展奠定了基础,该技术有望实现比现有电子设备更快的运行速度。
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