利用物理层测试系统和先进设计系统实现夹具建模和精确测量

随着“大数据”和“云计算”的应用不断深入,高速服务器、光通信系统和大容量存储阵列及其他高速链路中物理层的信号完整性问题向电子设计与测试工程师提出了严峻的挑战。其中对于非同轴接口产品验证的挑战便是如何实现夹具的准确建模、仿真并且利用高精度和便利的去嵌技术来移除测量过程中的夹具效应从得到精确的被测系统的电气特性。

针对工程师在高速数字与射频微波系统中遇到以上的难点,是德科技深圳开放实验室于2018年8月17日举办“利用物理层测试系统(PLTS)和先进设计系统(ADS) 实现夹具建模和精确测量”的主题日技术交流活动,活动安排如下:

立即报名研讨会

  • 发表于:
  • 原文链接https://kuaibao.qq.com/s/20180730F0UXMW00?refer=cp_1026
  • 腾讯「云+社区」是腾讯内容开放平台帐号(企鹅号)传播渠道之一,根据《腾讯内容开放平台服务协议》转载发布内容。
  • 如有侵权,请联系 yunjia_community@tencent.com 删除。

扫码关注云+社区

领取腾讯云代金券