汉御微传感器申请磁阻式位移传感器测试装置专利，能测试不同高度下磁场作用磁阻式位移传感器本体的检测数据

国家知识产权局信息显示，汉御微传感器（江苏）有限公司申请一项名为“一种磁阻式位移传感器的测试装置”的专利，公开号CN120593604A，申请日期为2025年07月。

专利摘要显示，本发明公开了一种磁阻式位移传感器的测试装置，包括检测台、减速电机、传动结构、磁性结构、磁阻式位移传感器本体、位移检测结构和调整结构；所述传动结构以减速电机的动力作为驱动力来实现磁性结构的横向往复移动；所述磁性结构产生的磁场作为磁阻式位移传感器本体的检测用磁场；所述位移检测结构提供磁性结构移动的距离数据，作为磁阻式位移传感器本体检测数据的参照；所述调整结构用于调整磁性结构相对于磁阻式位移传感器本体的纵向高度，从而改变磁性结构的磁场位置。

天眼查资料显示，汉御微传感器（江苏）有限公司，成立于2023年，位于徐州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本30000万人民币。通过天眼查大数据分析，汉御微传感器（江苏）有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目5次，专利信息9条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯