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鸿扬半导体申请微机电系统结构及其制造方法专利,可避免微沟槽效应

国家知识产权局信息显示,鸿扬半导体股份有限公司申请一项名为“微机电系统结构及其制造方法”的专利,公开号CN120589673A,申请日期为2024年03月。

专利摘要显示,本揭露提供一种微机电系统结构,其包括基板、氧化层、线路层以及图案化感测层。氧化层设置于基板上。线路层设置于氧化层上方。图案化感测层设置于线路层,其中图案化感测层图案化感测层包括第一部分和第二部分,第一部分位于第二部分上,且第二部分的图案不同于第一部分的图案。

声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。

来源:市场资讯

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  • 原文链接https://page.om.qq.com/page/Oe8FDEbqepz1FE_TN10nNN5g0
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