纳研科技申请IC板裂纹缺陷检测方法及其系统专利，显著提升微小裂纹的检出率

国家知识产权局信息显示，深圳市纳研科技有限公司申请一项名为“一种IC板裂纹缺陷检测方法及其系统”的专利，公开号CN120598879A，申请日期为2025年05月。

专利摘要显示，本发明公开了一种IC板裂纹缺陷检测方法及其系统，包括以下步骤：A1、构建U‑Net++深度学习网络模型，其包含编码器模块、解码器模块及多跳连接结构，所述编码器模块由5个卷积块组成，每个卷积块包括两个3×3卷积层、ReLU激活函数及步长为2的最大池化层，所述解码器模块通过上采样层与编码器对应层级的特征图进行跳跃连接，所述多跳连接结构在解码器的每个子网络之间建立密集跨层连接。本发明通过改进的U‑Net++网络结构，同时提取裂纹的边缘细节与语义信息，显著提升微小裂纹的检出率，引入深度监督机制与加权损失函数，针对性优化裂纹区域的学习权重，有效缓解类别不平衡问题，可以在复杂背景下显著降低误检率。

天眼查资料显示，深圳市纳研科技有限公司，成立于2007年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本127.551万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市纳研科技有限公司共对外投资了2家企业，财产线索方面有商标信息4条，专利信息21条，此外企业还拥有行政许可11个。

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来源：市场资讯