芝研智能申请结合视觉和X光检测技术的缺陷检测方法专利，实现表面与内部缺陷的协同检测

国家知识产权局信息显示，芝研智能科技（嘉兴）有限公司申请一项名为“一种结合视觉和X光检测技术的缺陷检测方法”的专利，公开号CN120598968A，申请日期为2025年08月。

专利摘要显示，本发明涉及工业产品缺陷检测技术领域，公开了一种结合视觉和X光检测技术的缺陷检测方法，该方法包括在检测对象表面覆盖区域同步采集视觉图像数据和X光透射数据，经联合预处理完成噪声抑制、伪影消除及时间对齐后，分别提取表面纹理特征和内部结构特征，通过多模态关联模块进行跨维度信息映射生成融合特征集合，进而识别表面损伤、内部空洞及边界不连续缺陷，最终根据缺陷空间分布和严重程度生成层级化检测报告并持续更新。该方法整合视觉与X光检测优势，实现了表面与内部缺陷的协同检测，通过多模态数据同步采集、特征融合及动态报告生成，提升了缺陷检测的全面性、准确性和实时性，适用于工业制造领域的零部件质量检测。

天眼查资料显示，芝研智能科技（嘉兴）有限公司，成立于2019年，位于嘉兴市，是一家以从事通用设备制造业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，芝研智能科技（嘉兴）有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目7次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息20条，此外企业还拥有行政许可3个。

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来源：市场资讯