新存科技申请半导体器件测试相关专利，获取存储单元可支持的最大线阻

国家知识产权局信息显示，新存科技（武汉）有限责任公司申请一项名为“半导体器件的测试方法、测试装置、电子设备和介质”的专利，公开号CN 120610138 A，申请日期为2025年05月。

专利摘要显示，本申请提供一种半导体器件的测试方法、测试装置、电子设备和介质，通过获取双向阈值开关在关闭阶段的电流电压关系模型，以获取双向阈值开关在关闭阶段的差分电阻绝对值随电压的变化关系模型，从而获取最大差分电阻绝对值，并将这个最大差分电阻绝对值作为线阻的电阻阈值，以获得存储单元可支持的最大线阻。因此线阻在小于或等于电阻阈值范围内，所有存储单元中的双向阈值开关在特定时间内都可以完全关断，而不影响存储单元阵列的操作一致性。

天眼查资料显示，新存科技（武汉）有限责任公司，成立于2022年，位于武汉市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1785.754万人民币。通过天眼查大数据分析，新存科技（武汉）有限责任公司共对外投资了8家企业，参与招投标项目3次，专利信息153条。

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来源：市场资讯