中国科研团队重大突破，半导体检测领域首个国际标准诞生

半导体产业链上的短板是我们发展芯片的一大困难，不将这些短板补齐，要想在高端芯片领域获得一席之地，则是困难重重。

所以，我们必须在半导体上进行更多的努力，以求更快获得突破。而就在近日，中国科技大学传来了好消息，我们在半导体检测领域迎来了一个了不起的突破！

半导体

近日，国际标准化组织（ISO）正式发布了半导体线宽测量领域的第一个国际标准：“基于测长扫描电镜的关键尺寸评测方法”，该标准由中国科学技术大学物理学院和微尺度物质科学国家研究中心丁泽军领导的团队主导制定，是半导体检测领域由中国主导制定的首个国际标准。

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“基于测长扫描电镜的关键尺寸评测方法”能够给出准确的关键尺寸值，适用于如晶圆上的栅极、光掩模、尺寸小至10纳米的线条特征图案，将对半导体行业的发展起着非常重要的推动作用。

对于这样的一个成就，或许一些朋友看不到这里面的重要意义，这里面就给大家再说一下关于标准的重要意义！

做好产品的企业属于三流企业，做好品牌的企业属于二流企业，做好标准的企业，属于一流企业！

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既然是国际标准，那就是一个准则，其实也是一个技术门槛，更是一个市场门槛！当我们做出来一个国际标准的时候，那么其他国家的产品，要想在国际上打开市场，那就必须遵循国际标准，否则就很难拓开市场，毕竟“你不符合我们的标准”，已经成为阻挡外国产品进入本国市场的国际惯例！

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而要想实现这个国际标准的高度，就必须在技术门槛上进行突破，要么采用我们的专利，要么绕过这个专利，开拓新的专利，换句话说，我们制定了国际标准，就相当于占领了技术的制高点，为我们的产品国际化，打下了坚实的基础！

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值得一提的是，现在世界上大多数的国际标准都掌握在发达国家手中，我们所占的比例非常少，这就限制了我们的产品进入了其他国家的机会，而每当我们在国企标准上获得一次重大突破，其实就相当于我们的技术、产品在国际市场上获得了突破！所以，要为丁泽军团队点赞，好样的！