探针测试probe
探针测试Probe：旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
适用于：Wafer，IC测试，IC设计等
检测内容包含：
1.微小连接点信号引出
2.失效分析失效确认
3.FIB电路修改后电学特性确认
4.晶圆可靠性验证
- 发表于:
- 原文链接：https://kuaibao.qq.com/s/20201028A0A7JN00?refer=cp_1026
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