正在直播：如何进行芯片静电放电测试以及显微失效分析？

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目前国内疫情多发，线下活动受到了很多限制。为此芯榜联合赛默飞世尔科技半导体业务部门计划举办「同“芯”协力」系列云上课堂。

「同“芯”协力」系列云上课堂，将从各项分析技术的基本原理与优势出发，进而介绍针对的应用场景与案例，以及相关技术与工作流程的最新开发进展。

上期我们介绍了同“芯”协力云上课堂设立的背景与主要涵盖的内容，那么第一场主要关注哪些方面呢？

首先是静电放电测试解决方案。在秋冬干燥季节，静电是很恼人的事情，一不小心就会被电。芯片同样如此而且危害性更大，如果未加保护就很容易受到不可逆的损伤，因此静电放电(ESD)及电过应力(EOS)防护对芯片设计，制造及应用至关重要。而面对越来越高端复杂的芯片及元器件，静电放电防护的要求也越加严苛，在本次课程上将介绍赛默飞静电放电及电过应力测试产品组合为用户提供的最优解决方案。

静电防护不到位对芯片来说等同于没有穿防弹衣上战场，但如果芯片内部结构有缺陷，又该如何使缺陷首先可见，并进一步可量测可分析呢？这就需要电子显微镜发挥其独特的本领。并且随着芯片结构变得越来越复杂，需要更多源的加工技术以及更高效的加工手段，结合高分辨的成像和微量分析技术来进行全面分析，这也正是电镜的发展方向。本次课程第二个报告将为您呈现电镜分析的基本原理以及在半导体行业的应用案例，特别讲述了双束电镜在半导体行业的应用优势和前沿发展以及电镜如何助力于半导体工业领域的研发和良率提升。

所以说无论您是行业新人或是大咖，相信都可以从中有所获益，2022年12月14日14:00-15:30我们在云上相聚，赶紧扫描二维码报名吧！