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社区首页 >专栏 >基于时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量方案

基于时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量方案

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同步天下
发布于 2026-11-13 09:30:30
发布于 2026-11-13 09:30:30
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关键词:光子计数器,时间相关计数器,单光子计数系统,时间相关单光子计数系统

实验原理:采用HBT(Hanbury-Brown-Twiss)构型,待测单光子经过50:50分束器分成两路,两台单光子探测器输出LVTTL脉冲接入SYN5648时间相关单光子计数器,设备采集两路光子事件时间戳,上位机统计光子到达时间差,归一化得到二阶相干函数g(2)(τ),g(2)(0)<1判定为具备单光子反聚束特性。

1 整套实验设备清单

1.1 光学光路单元(HBT光路)

表1 光学光路单元器件清单

器件

说明

待测单光子源

NV色心、量子点、单分子、衰减激光等;固体样品搭配共聚焦显微收集系统

50:50分束器件

自由空间分束立方 / 光纤50:50耦合器(光纤版本调试简单,优先选用)

窄带干涉滤光片

滤除泵浦激光、环境背景杂散光,降低背景计数

中性衰减片ND

将光强衰减至单光子量级,避免探测器饱和,单通道计数建议控制在10k-200kcps

准直透镜、光阑、偏振控制器

光纤光路搭配光纤准直器、偏振控制器;自由空间光路搭配透镜、小孔光阑

1.2 探测单元(2台,必备)

  • 可见光波段(400-1060nm):SPCM-AQRH硅单光子计数模块(SPCM),输出LVTTL数字脉冲。
  • 通信波段(1310/1550nm):InGaAs-SPAD单光子探测器。

关键指标:低暗计数、低后脉冲;输出电平必须为LVTTL,匹配SYN5648的SMA输入接口。

1.3 电子采集设备:时间相关单光子计数器

  • 输入接口SMA,电平LVTTL;时间分辨率1ps,时间抖动≤25ps,饱和计数率≥70Mcps。
  • 支持多路时间戳记录,最长连续记录26000s;内置二阶相干测量分析功能。
  • 时钟:内置10MHz恒温晶振,支持外接10MHz参考时钟。
  • 通信:USB / 10G-SFP网口连接电脑;上位机软件可实时绘制g(2)(τ)曲线、导出原始时间戳数据。

1.4 配套附件

50Ω阻抗SMA同轴电缆(两路线缆尽量等长,减小固有时间差)、探测器供电电源、220V交流供电、控制计算机。

2 硬件接线步骤

2.1 搭建HBT光学光路

待测光源→窄带干涉滤光片→ND中性衰减片→50:50分束器;分束器两路输出分别耦合至两台单光子探测器光敏面,完成光路粗调,保证两路均可采集到光子计数信号。

2.2 探测器信号接线

两台单光子探测器完成供电并开机,探测器输出的LVTTL计数脉冲,使用50Ω SMA线缆分别接入CH0、CH1通道;两路SMA电缆长度尽可能保持一致,消除线缆传输带来的固有时间偏移。

2.3 主机接线

  • 接入220V交流电源开机,通过USB或者10G-SFP网口与控制计算机建立通信。
  • 高精度实验场景可外接10MHz参考时钟接入仪器外参考输入端口;普通实验直接使用设备内置恒温晶振即可。

2.4 开机顺序与安全注意

开机顺序:先开启单光子探测器,再启动主机,最后打开上位机控制软件。

安全注意:仅接入LVTTL电平脉冲,严禁高压脉冲直接输入SMA输入端口,防止通道硬件损坏。

3 上位机软件参数配置

3.1 通道基础配置

启用CH0、CH1采集通道,设置触发边沿为上升沿,关闭其余闲置通道。

3.2 工作模式选择

选用「时间戳采集模式(Time-tag)」,不使用传统Start-Stop模式;启用软件内置【二阶相干测量】分析模块。

3.3 二阶相干测量关键参数设置

表2 二阶相干测量关键参数

参数

参考设置

说明

时间扫描范围

±10ns ~ ±50ns

覆盖光源光子相干寿命;NV色心常用±20ns;量子点依据荧光寿命调整

直方图bin宽度

10ps-100ps

bin宽度不可大于系统总时间抖动;系统总抖动包含探测器抖动与仪器≤25ps固有抖动

采集时长

60-600s

单光子源信号偏弱,需要足够累积时间保障信噪比;设备最长支持26000s不间断连续采集

符合判选

关闭硬件符合门

基于全量时间戳完成软件层面时间差统计

3.4 预调试观测

开启实时计数监控界面,调节ND衰减片,将两路单通道计数率控制在10k-200kcps。计数过高会引入探测器死时间、后脉冲带来的信号畸变;计数过低会降低信噪比,成倍增加采集耗时。

3.5 暗计数标定

完全遮挡入射光路,记录两路通道暗计数率,该数据用于后续实验数据校正。

4 正式采集测量流程

4.1 光路与环境准备

优化光路耦合,提升两路光子计数;实验环境做好避光处理,抑制环境杂散光干扰。

4.2 启动采集

在软件二阶相干测量页面,确认扫描范围、bin宽度、采集时长等参数,启动采集。

4.3 实时监测

软件实时输出两路单路计数曲线、时间差符合计数直方图、归一化g(2)(τ)曲线,可直接读取零延时τ=0位置的g(2)(0)数值。

4.4 数据导出

  • 处理完成的g(2)(τ)曲线CSV文件。
  • 原始时间戳Time-tag JSON/CSV文件,可用于离线二次校正、论文绘图。

4.5 实验结果判定参考

  1. 理想单光子源:g(2)(0)→0;受暗计数、后脉冲的实验条件限制,性能优良的单光子源通常满足g(2)(0)<0.5。
  2. 相干泊松激光:全延时区间g(2)(τ)≡1。
  3. 热光(赝热光)存在聚束效应:g(2)(0)=2。

5 系统误差来源与校正方法

5.1 暗计数

暗计数会抬高g(2)(0)基线;实验必须标定暗计数率,可通过软件或离线脚本完成暗计数扣除校正。

5.2 探测器后脉冲

APD探测器后脉冲会在非零延时处产生虚假符合峰;可通过降低单通道计数率缓解,严重情况下基于原始时间戳做后脉冲算法修正。

5.3 系统时间抖动

固有时间抖动≤25ps;系统总抖动为探测器时间抖动叠加仪器抖动,抖动会展宽反聚束凹陷,数据拟合时需要引入系统抖动参数做卷积拟合。

5.4 光路两路不平衡损耗

两路光传输效率不一致不会改变g(2)(0)真值,但会降低信噪比,实验中尽量平衡两路光功率。

5.5 光子堆积效应

光强过高会出现多光子同时到达,破坏单光子条件,必须依靠ND衰减片控制光强。

6 系统校验对照测试

正式测量单光子源前,建议采用高度衰减连续激光作为参考光源,完成整套HBT光路+采集系统校验。

衰减激光属于泊松相干光源,测量输出g(2)(τ)整条曲线应趋近于1;若g(2)(0)明显偏离1,代表光路、接线或者参数配置存在错误,完成故障排查后,再开展待测单光子源测试。

7 常见故障排查要点

7.1 无光子计数

检查探测器供电、光路耦合状态、SMA线缆连接、通道触发边沿设置,确认探测器输出为LVTTL有效脉冲。

7.2 观测不到反聚束谷

g(2)(0)始终接近1时:①待测光源本身单光子性能差;②光功率过高发生光子堆积;③背景杂散光或暗计数过大;④光路耦合差、信号弱、信噪比不足。

7.3 曲线出现周期性伪峰

检查SMA线缆屏蔽接地,降低电磁干扰;评估探测器后脉冲的影响。

8 系统拓展能力

该时间相关单光子计数器为多通道架构,开展参量下转换宣布式单光子源等扩展实验时,可启用3路及以上通道,同步采集信号光子与宣布光子,实现多通道符合计数;硬件同时兼容荧光寿命FLIM、荧光相关光谱FCS等其他光量子测量。

时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (1)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (1)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (2)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (2)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (3)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (3)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (4)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (4)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (5)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (5)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (6)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (6)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (7)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (7)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (8)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (8)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (9)
时间相关单光子计数器的单光子二阶相干测量 (9)

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目录
  • 1 整套实验设备清单
    • 1.1 光学光路单元(HBT光路)
    • 1.2 探测单元(2台,必备)
    • 1.3 电子采集设备:时间相关单光子计数器
    • 1.4 配套附件
  • 2 硬件接线步骤
    • 2.1 搭建HBT光学光路
    • 2.2 探测器信号接线
    • 2.3 主机接线
    • 2.4 开机顺序与安全注意
  • 3 上位机软件参数配置
    • 3.1 通道基础配置
    • 3.2 工作模式选择
    • 3.3 二阶相干测量关键参数设置
    • 3.4 预调试观测
    • 3.5 暗计数标定
  • 4 正式采集测量流程
    • 4.1 光路与环境准备
    • 4.2 启动采集
    • 4.3 实时监测
    • 4.4 数据导出
    • 4.5 实验结果判定参考
  • 5 系统误差来源与校正方法
    • 5.1 暗计数
    • 5.2 探测器后脉冲
    • 5.3 系统时间抖动
    • 5.4 光路两路不平衡损耗
    • 5.5 光子堆积效应
  • 6 系统校验对照测试
  • 7 常见故障排查要点
    • 7.1 无光子计数
    • 7.2 观测不到反聚束谷
    • 7.3 曲线出现周期性伪峰
  • 8 系统拓展能力
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