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问颤振测试: InputChip点击删除
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Stack Overflow用户

提问于 2020-12-06 19:52:09

回答 1查看 233关注 0票数 2

我在应用程序中使用InputChips。

InputChip(
  key: Key(label.id),
  label: Text(label.name),
  onDeleted: () => deleteChip(),
),

我现在想要创建单元测试来测试delete函数。不幸的是，我没有办法在单元测试中按下芯片的删除图标。有了await tester.tap(find.byKey(Key('1')));，就有可能找到芯片。现在如何定义要单击芯片上的删除图标？

回答已采纳

发布于 2020-12-06 20:39:10

您的查找器正在查找和点击InputChip 本身，而不是芯片上的"X“。

您的查找器应该类似于：

find.descendant(
      of: find.byKey(Key(label.id)),
      matching: find.byIcon(Icons.cancel),
    );

上面写着“查找InputChip的后代谁是cancel Icon，然后您可以点击它，如果您想:)

当您没有命中目标，或者不确定测试中发生了什么时，请在运行debugDumpApp();后查看控制台

票数 3

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原文链接：

https://stackoverflow.com/questions/65172417

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