我在晶片上的每个单元上运行了几个测试,并想要存储整个晶片上每个测试结果的摘要(中位数、cpk、std开发等)。我还想为每一批测试的结果保存一个摘要,其中很多是一组晶片。
我是否应该建立一个摘要实体(由测试号+一个时间戳标识),这个实体对许多晶片和多个晶片都是有很多的,还是应该用键晶片id +测试号来建模晶圆摘要,用密钥批号+测试号来建立单独的批次摘要?
如果在一个特定的批次中只有一个晶片比晶圆和多个晶片可以指向与第一个方法相同的摘要,避免了冗余。实际的数据更复杂,如果一个晶片可以被测试几次,但并不总是这样,那么就有更多的冗余机会。
发布于 2023-04-19 17:39:19
这听起来很像立方体。
在多维数据集中,存储每个单独的测试(越细,越好),然后在数据上运行各种聚合。聚合的结果也会被存储,然后你可以用很多,时间,任何你想要的东西来分割最终的结果。
https://dba.stackexchange.com/questions/326186
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