TEM实用技能：SAED衍射斑点标定、DM测量晶格间距、ImageJ形貌分析！
课程完全免费，全程3小时，详解六种制样方式和ImageJ、DigitalMicrograph、CrysTBox三大TEM数据分析软件，带大家搞定科研刚需技能。
样品制备内容：对常规制样、包埋切片、离子减薄、FIB等六大制样方法进行讲解，通过案例分析指导制样方法和电镜型号的选择，减少制样环节对样品成像质量的影响，以获取高质量的分析表征结果。
样品制备
数据分析内容：通过ImageJ、DigitalMicrograph、CrysTBox三大软件解析TEM图像、衍射花样的现场演示，学习TEM形貌分析、晶格条纹分析、晶体学取向关系分析等。
DigitalMicrograph晶格条纹分析
CrysTBox衍射花样标定
ImageJ形貌分析粒径统计
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