聚焦离子束技术在微纳加工中的应用
随着半导体制造业的快速发展,对产品质量的要求不断提高,微分析技术的需求也随之增加。纳米结构,尤其是纳米光子和纳米光学领域的应用,正在推动相关技术的进步。聚焦离子束(FIB)系统作为一种重要的微纳加工工具,因其独特的加工能力而在纳米科技领域中发挥着越来越重要的作用。
FIB系统的基本功能
FIB系统不仅具备扫描电子显微镜的成像功能,还能进行刻蚀、沉积材料及器件、离子注入等微纳加工。这些功能使得FIB在纳米科技领域中具有广泛的应用前景。
FIB加工原理
FIB加工是通过高能离子束轰击样品表面实现的。离子束经过加速、质量分析和整形处理后,聚焦在样品表面。目前,离子束斑直径已可达到纳米级别,通过计算机控制束扫描器和消隐组件,可以加工出特定的图案。为了方便大家对材料进行深入的失效分析及研究,金鉴实验室具备Dual Beam FIB-SEM业务,包括透射电镜( TEM)样品制备,材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积以及材料三维成像及分析等。
离子束强度的影响
离子束强度对微纳图形的加工效果有显著影响。实验表明,离子束强度的高斯分布对结构形貌有直接影响。通过在Si(100)晶片上进行实验,研究了不同离子束能量(5keV和30keV)对刻蚀结构的影响。结果显示,5keV时束斑更宽,刻蚀能力较低,聚焦性较差;而30keV时刻蚀效果更接近预期。
实验结果示例:
图1展示了不同能量下刻蚀方形结构的倾斜视图,显示了刻蚀宽度与设定参数的比较。
图2展示了不同电流下刻蚀线结构的俯视图,突出了电流对结构尺寸的影响。
离子束电流的影响
离子束电流的变化直接影响入射离子的剂量,进而影响刻蚀效果。实验中,通过改变电流(1.5pA, 9.7pA, 48pA),研究了电流对线结构刻蚀的影响。结果表明,电流越大,刻蚀线轮廓的尺寸变化越明显。
实验结果示例:
图3展示了不同电流下刻蚀线结构的AFM轮廓图,显示了线结构深度和宽度的变化。
离子束驻留时间的影响
驻留时间是FIB加工中的关键参数之一。驻留时间的增加会导致再沉积效应的产生,影响刻蚀形貌。实验中,通过改变驻留时间(如1ms),研究了再沉积对结构形貌的影响。
实验结果示例:
图4展示了1ms驻留时间刻蚀再沉积结构和截面图,显示了再沉积效应对刻蚀深度和形貌的影响。
再沉积效应的影响
再沉积效应是FIB加工中的一个重要现象。通过延长驻留时间,可以利用再沉积效应制备出特定的结构形貌。实验中,通过改变驻留时间,研究了再沉积对结构形貌的影响。
实验结果示例:
图5展示了再沉积结构的形貌,突出了再沉积堆积的方向性。
结论
在FIB微纳图形的制备过程中,各种加工工艺参数都会影响最终的结构形貌。选择合适的离子束能量、电流和驻留时间,可以有效地控制刻蚀效果,制备出所需的理想形态。例如,30keV的离子束能量在材料去除过程中能获得较好的结构形貌;小电流适用于纳米级结构的刻蚀;而增大驻留时间则可以利用再沉积效应制备出特定的结构。通过这些实验和分析,可以为FIB微纳加工提供更深入的理解和指导,推动纳米科技领域的发展。
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