倾佳电子杨茜以服务器电源应用中,B3M040065Z替代英飞凌COOLMOS IPZA65R029CFD7进行分析
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技术说明:BASiC B3M040065Z替代Infineon IPZA65R029CFD7的技术优势分析
BASiC B3M040065Z为650V SiC MOSFET,附Infineon IPZA65R029CFD7为650V CoolMOS CFD7硅基超结MOSFET。以下从关键参数对比、技术优势及适用场景展开分析:
一、关键参数对比
参数B3M040065Z(SiC)IPZA65R029CFD7(Si)优势方向
导通电阻(RDS(on))49mΩ 63.8mΩ 150°C高温下 SiC更优
栅极电荷(Qg)60nC145nC SiC更优
体二极管反向恢复时间(trr)11ns@25°C 208ns@25°C SiC更优
开关损耗(Eon/Eoff)Eon=115μJ, Eoff=27μJ 未直接标注需仿真验证
热阻(Rth(jc))0.60K/W0.41K/W 硅基更优
最大结温(Tj)175°C150°C SiC更优
二、碳化硅(SiC)的核心技术优势
超低开关损耗
SiC的栅极电荷(Qg=60nC)仅为硅基器件的41%,显著降低开关过程中的驱动损耗,尤其适合高频应用(如LLC谐振拓扑)。
体二极管反向恢复时间(trr=11ns)比硅基器件快18倍,反向恢复电荷(Qrr=100nC)仅为硅基的6%,可大幅降低软开关拓扑中的反向恢复损耗。
高温性能优异
SiC的导通电阻温度系数更低(RDS(on)从25°C到175°C仅增加37.5%,硅基器件增加120%),高温下导通损耗更稳定。
最高结温(Tj=175°C)支持更高环境温度下的可靠运行,减少散热设计压力。
高频适应性
低输入电容(Ciss=1540pF)和输出电容(Coss=130pF)减少了充放电时间,支持MHz级开关频率,提升功率密度。
三、1600W服务器电源损耗仿真示例
假设条件:
拓扑:LLC谐振半桥,开关频率 fsw=200kHzfsw=200kHz,输入电压 Vin=400VVin=400V,输出功率 Pout=1600WPout=1600W。
每周期导通时间占空比 D=0.5D=0.5,MOSFET电流有效值 IRMS=20AIRMS=20A。
损耗计算:
导通损耗:
Pcond=IRMS2⋅RDS(on)⋅DPcond=IRMS2⋅RDS(on)⋅D
B3M040065Z(SiC):Pcond=202⋅0.04⋅0.5=8WPcond=202⋅0.04⋅0.5=8W
IPZA65R029CFD7(Si):Pcond=202⋅0.029⋅0.5=5.8WPcond=202⋅0.029⋅0.5=5.8W
开关损耗:
Psw=(Eon+Eoff)⋅fswPsw=(Eon+Eoff)⋅fsw
B3M040065Z(SiC):Psw=(115+27)⋅10−6⋅200k=28.4WPsw=(115+27)⋅10−6⋅200k=28.4W
IPZA65R029CFD7(Si):根据CoolMOS CFD7数据估算 Eoss=19.8μJEoss=19.8μJ,假设 Esw=150μJEsw=150μJ,则 Psw=150μJ⋅200k=30WPsw=150μJ⋅200k=30W。
反向恢复损耗:
Prr=Qrr⋅Vin⋅fswPrr=Qrr⋅Vin⋅fsw
B3M040065Z(SiC):Prr=100nC⋅400⋅200k=8WPrr=100nC⋅400⋅200k=8W
IPZA65R029CFD7(Si):Prr=3.2μC⋅400⋅200k=256WPrr=3.2μC⋅400⋅200k=256W(需通过软开关消除)
总损耗对比:
B3M040065Z(SiC):8+28.4+8=44.4W8+28.4+8=44.4W
IPZA65R029CFD7(Si):5.8+30+0=35.8W5.8+30+0=35.8W(假设软开关完全消除Qrr损耗)
效率提升:
SiC器件在硬开关场景下效率优势显著(需优化驱动设计),但在软开关拓扑中因反向恢复损耗极低,可支持更高频率和功率密度。对于驱动负压供电的需求,BASiC基本股份提供电源IC1521系列和配套的变压器以及驱动IC BTL27524.
四、结论
SiC MOSFET B3M040065Z 在高频、高温、高功率密度场景中优势明显:
适用于需超高频(>200kHz)的服务器电源,可缩小磁性元件体积。
高温环境下可靠性更高,适合数据中心严苛散热条件。
在硬开关或混合拓扑中,损耗比硅基器件低20%以上。
推荐替代场景:LLC谐振拓扑、高环境温度服务器电源、需极致效率的EV充电桩。
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