报名提醒｜同“芯”协力系列云上课堂三

2023年，后疫情时代下，中国半导体市场在中美战略的博弈中稳步前行。随着新能源汽车、5G、自动化工业等高新技术的飞速发展，对于高效率高性能的半导体器件的需求正进入史无前例的时代。而这些新技术在研发和生产方面所面临的挑战往往需要对新材料器件结构进行原子级别的量测和表征分析，也就对高质量高效率的TEM有了更高的需求。而同时如何高效和批量地进行TEM量测和分析，也就对TEM样品制备的效率提出了更高的要求。

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本次课堂两大看点：

直播看点1

赛默飞将针对半导体行业最关心的材料表征、失效分析，良率提升等话题，介绍透射电子显微学技术及先进中高端透射电子显微镜在半导体工业设计、研发等方面的各项应用与解决方案。

直播看点2

此次直播将呈现半导体行业TEM样品制备的挑战和解决方法。结合半导体行业的应用案例，特别讲述了双束电镜在透射电镜样品制备的应用优势和前沿发展，以及拓展介绍了半导体行业常规失效分析方法，如何使用电镜助力于半导体工业领域研发和良率提升。

会议时间

2023年3月23日14:00-15:30

参与方式