解决方案 射频集成电路测试系统

射频集成电路测试系统是针对射频集成电路的性能指标测试要求，基于PXIe总线仪器为主体构建的一种集射频、数字、源测量等测试资源于一体且集成度高的集成电路综合测试平台。该系统具有开放式的系统体系架构，可适用于集成电路设计验证、产线测试、入厂复检等不同应用场景，能够满足射频前端类相关的功率放大器、低噪声放大器、微波开关、滤波器、双工器等器件的全指标多工位并行自动化测试需求。

功能特点

兼容性强-基于PXIe总线仪器为主体构建，总线开放

基于PXIe总线仪器为主体构建，具有很强的灵活性、兼容性，通过对射频、数字和源测量类测试资源的组合重构，可满足不同规模和指标水平的射频集成电路测试需求；同时得益于PXIe总线的开放性，系统也可根据用户实际需求有机融合全球资源提供最优配置。

测试快速-立即可用的多工位并行测试管理支持

安全性高-完善的测试状态监控与异常处理，保证测试安全

校准完善-涵盖标量、矢量、金机等多种校准方式

技术规范-支持STDF标准测试数据收集、主流分选机控制

平台完备-共性功能支持丰富完备

交付快速-多维度，多人并行开发交付

典型应用

射频集成电路测试系统具有对射频集成电路的多参数自动测试能力，以射频前端类相关集成电路测试为例，具体测试内容包括：频谱特性、伏安特性、噪声系数等。测试系统各组成部分、信号流转方式如下图所示。