引言:随着5G通信向毫米波频段(24.25-52.6 GHz)及未来6G太赫兹频段扩展,传统氮化铝(AlN)因其压电常数(d33≈4 pC/N)的限制,难以充分满足高频滤波器对较高机电耦合系数(kt²)与低插损的需求。钪铝氮化物(ScAlN)通过掺杂钪元素(Sc),其压电性能得到增强,成为应对高频器件性能要求的一种重要材料路径。近年来,围绕ScAlN在材料制备、性能优化及器件设计等方面的研究不断取得进展,为5G/6G射频前端和宽带应用提供了新的可能。
一、ScAlN材料特性与高频性能优势
ScAlN属纤锌矿结构,其压电性能随Sc掺杂浓度增加呈现非线性变化。理论计算显示,当Sc掺杂浓度达到60-70 mol%范围时,压电常数d33可超过40 pC/N,明显高于纯AlN;相应的机电耦合系数kt²也有所提高。这主要与Sc原子引入导致的晶格变化和声学模式的改变有关,这些变化降低了晶体对称性,从而影响其极化响应。此外,ScAlN具备以下特点:
较高的耐温性: 居里温度通常高于1150℃,对高温工作环境适应性较强;
较低的损耗特性: 声学品质因数(Q值)一般大于2000,介电损耗(tanδ)通常小于0.001,有助于减轻高频信号衰减;
较好的CMOS兼容性: 支持在硅基上进行集成,有助于降低射频模组的制造成本。
二、材料制备核心突破:结晶质量与压电性能优化
较高Sc掺杂浓度(如超过40 mol%)容易引发晶格不稳定和晶粒生长不均匀的问题,可能影响压电性能的发挥。近年来的研究探索了多种制备工艺来应对这些挑战:
Lu基底层诱导外延生长
有研究团队在ScAlN薄膜底部引入镥(Lu)金属基底层。由于Lu的六方最密结构与ScAlN晶格匹配较好,该方法促进了Sc浓度约50.8 mol%薄膜的均匀生长,薄膜压电常数提升至35.5 pC/N,比常规工艺所得性能提升约12%。
可控热退火工艺
根据2025年报道的热退火技术,可使Sc0.3Al0.7N薄膜d33从12.3 pC/N提升至45.5 pC/N。在700℃氩气环境中退火能够帮助修复晶格缺陷,优化畴结构排列,使其kt²从13.8%提高到76.2%,达到与铌酸锂薄膜相近的水平。
全晶外延堆叠结构
科泰团队在硅衬底上成功制备了单晶Sc0.12Al0.88N/Mo异质结构,该结构在11.8 GHz谐振频率下实现了f·Q值约为2.5×10¹² Hz的指标,为高频薄膜体声波谐振器(FBAR)滤波器的发展奠定了基础。
三、高频器件设计创新与应用进展
(1)体声波滤波器(BAW/FBAR)
ScAlN相对较高的声速(>6000 m/s)和提升的kt²特性使其成为毫米波滤波器的合适候选材料:
过调制谐振器(OBAR): 采用特定设计的等厚电极与压电层结构,在33 GHz频率下实现了Qs约等于110、k²约为1.7%的性能,展示了在30-60 GHz频段内应用的可行性;
高频FBAR: 利用外延生长的ScAlN薄膜制备的FBAR,在4.6 GHz基模频率下Q值达到1230(对应f·Q≈5.6×10¹² Hz),器件插损降低近40%,适于应用于5G n79频段(4.4-5.0 GHz)。
(2)5G宽带与多频段射频前端
采用ScAlN的滤波器带宽通常比AlN滤波器宽3倍左右,能够更好地支持5G所需的宽带需求(例如3.5 GHz与4.9 GHz载波聚合)。其较高的功率耐受性(>40 dBm)也使其能满足大规模MIMO基站对多通道滤波器提出的功率要求。一些厂商已将其应用于Sub-6 GHz射频模组,有助于减少带外噪声,降低幅度达到15%以上。
(3)新兴应用拓展
压电超声换能器(PMUT): ScAlN具有较高的d33值,有助于提升医学超声成像分辨率;
GaN HEMT器件: 采用ScAlN作为势垒层,能够增加二维电子气(2DEG)浓度,提高射频功率放大器的效率;
自供能传感器: ScAlN带来的压电性能提升(相较于AlN),为物联网设备的机械能收集提供了新的方案探索。
四、挑战与未来方向
当前ScAlN技术仍面临几项有待解决的挑战:
高Sc浓度薄膜规模化生产: 当掺杂浓度高于50 mol%时,对薄膜应力的精确控制及晶界缺陷的有效抑制仍需深入研究;
热稳定性改进: 在高温工作条件下,Sc空位的迁移可能导致材料性能出现衰减;
噪声抑制要求: 宽带滤波器在高频段工作时面临的噪声增加问题,需要通过电路集成设计的优化来解决。
未来研究预期将聚焦于以下方向:
多元素共掺技术: 例如探索Mg/Sc-AlN等体系,以期在压电性能提升与材料稳定性之间取得平衡;
异质结构设计: 研究如铁电ScAlN/GaN界面的极化效应,通过调控载流子浓度来提升高电子迁移率晶体管(HEMT)的性能;
晶圆级集成工艺: 开发适用于ScAlN滤波器与硅基集成电路(IC)实现单片集成的低温键合等工艺。
结语
ScAlN凭借其可调节的压电特性、良好的高频低损耗性能以及较好的CMOS兼容性,已成为5G/6G射频前端领域一种重要的新材料体系。随着材料生长与器件集成技术的发展成熟,其应用场景有望从滤波器拓展至功率电子、传感器件乃至量子器件等多个领域。未来的关键在于加强“材料-工艺-电路”设计环节的协同优化,推动ScAlN在高频通信领域的规模化应用进程。