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上海美仁半导体申请电机相电流采样装置及方法等专利,相电流采样成本较低

国家知识产权局信息显示,上海美仁半导体有限公司申请一项名为“电机相电流采样装置及方法、芯片、电机控制器”的专利,公开号 CN120601786A,申请日期为 2024 年 03 月。

专利摘要显示,本发明公开了一种电机相电流采样装置及方法、芯片、电机控制器,其中装置包括:参考电压提供单元、采样单元和控制单元,参考电压提供单元与采样单元的参考地端相连,控制单元与采样单元相连;参考电压提供单元用于输出电机中性点电压的分压;采样单元用于基于分压采样多相桥臂中每相桥臂对应电机相电压;控制单元用于在一个脉冲调制周期中每相桥臂的目标采样时段内,控制参考电压提供单元输出相应电机中性点电压的分压,并控制采样单元基于分压采样相应的电机相电压,得到多个电机相电压采样值,以及根据多个电机相电压采样值确定电机相电流;其中,目标采样时段为每相桥臂对应的死区时间开始至续流完成前的时段。

天眼查资料显示,上海美仁半导体有限公司,成立于2018年,位于上海市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本7800万人民币。通过天眼查大数据分析,上海美仁半导体有限公司财产线索方面有商标信息8条,专利信息78条,此外企业还拥有行政许可1个。

声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。

来源:市场资讯

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