芯联微电子申请用于监控工艺偏差的可调式环形振荡器及其测试方法专利，放大NMOS器件或PMOS器件的变异

国家知识产权局信息显示，重庆芯联微电子有限公司申请一项名为“用于监控工艺偏差的可调式环形振荡器及其测试方法”的专利，公开号CN120601866A，申请日期为2025年05月。

专利摘要显示，本发明提供用于监控工艺偏差的可调式环形振荡器及其测试方法，环形振荡器包括多个串联的结构单元，每个结构单元包括一个传输门和一个标准反相器，传输门包括第一PMOS器件、第一NMOS器件和C端，C端用于控制传输门中的第一PMOS器件、第一NMOS器件的开关，标准反相器包括第二PMOS器件和第二NMOS器件，传输门中的第一PMOS器件、第一NMOS器件的第一源极、第一漏极和第一栅极与标准反相器中的第二PMOS器件和第二NMOS器件的第二源极、第二漏极和第二栅极的位置对称。本发明在标准反相器前加一个传输门，组成一个结构单元，传输门放大了NMOS器件或PMOS器件的变异，得到NMOS器件或PMOS器件对环形振荡器频率的影响。

天眼查资料显示，重庆芯联微电子有限公司，成立于2023年，位于重庆市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本870000万人民币。通过天眼查大数据分析，重庆芯联微电子有限公司参与招投标项目743次，专利信息167条，此外企业还拥有行政许可12个。

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来源：市场资讯