RF射频芯片测试座的工作原理-深圳欣同达

RF射频芯片测试座是一种用于测试射频芯片的测试设备，它可以测试射频芯片的性能，包括输入阻抗、输出阻抗、频率特性、电源电压、调制度等。它也可以用来测试射频芯片的功率特性、抗干扰性能及其他性能参数。

RF射频芯片测试座的工作原理主要有两种，分别是半双工模式和全双工模式。半双工模式是指在测试过程中，射频芯片只能接收或发射，不能同时进行接收和发射。全双工模式是指在测试过程中，射频芯片可以同时进行接收和发射。

在半双工模式下，测试座将射频芯片接入测试模块，测试模块向射频芯片输入一定的测试信号，射频芯片接收信号并将其转换为电信号，测试模块接收转换后的电信号，仪表检测电信号的参数，从而测量射频芯片的性能参数。

在全双工模式下，测试座将射频芯片接入测试模块，测试模块向射频芯片输入一定的测试信号，射频芯片接收信号并将其转换为电信号，测试模块接收转换后的电信号，仪表检测电信号的参数，从而测量射频芯片的性能参数。同时，测试模块也会向射频芯片输入一定的测试信号，射频芯片接收信号并将其转换为电信号，仪表检测电信号的参数，从而测量射频芯片的性能参数。

深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座。