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在5G通信、毫米波雷达、卫星导航等高端领域,高频芯片的应用日益广泛,其工作频率从数GHz延伸至百GHz级别,对测试环节的信号完整性与适配灵活性提出了双重严苛要求...
在芯片测试领域,卡片式芯片因封装紧凑、应用场景灵活等特点,广泛应用于消费电子、物联网终端等产品中。然而,这类芯片的测试环节却长期被“适配难”问题所困扰—非标封装...
光电模块作为 “光信号与电信号的转换枢纽”,通过集成光发射(TOSA)、光接收(ROSA)、驱动芯片、放大芯片等组件,实现 “电信号→光信号→电信号” 的全链路...
芯片测试贯穿制造全流程,其精度直接决定良率高低,而芯片测试座作为芯片与测试设备的唯一接口,是适配各类测试场景的关键载体。
图像传感器芯片是实现 “光信号→电信号→数字图像” 转换的核心器件,通过集成像元阵列、信号读出电路、AD 转换器及图像处理模块,为各类成像设备提供高保真图像数据...
芯片测试是保障良率的关键环节,按生产阶段可分为CP 测试(晶圆级测试)、FT 测试(成品级测试),而ATE 测试(自动化测试设备) 是实现前两类测试的核心工具。...
性能需求:耐压≥650V(乘用车)/1200V(商用车),持续电流≥150A,开关频率≥20kHz,结温耐受≥175℃,需通过 AEC-Q101 车规可靠性认证
运行条件:需耐受 120℃以上高温(机舱环境)、600V + 高压及 200A + 瞬态电流,且要求 10 年 / 20 万公里使用寿命
芯片HAST(高加速应力测试,Highly Accelerated Stress Test)与芯片HTOL(高温工作寿命测试,High Temperature ...
晶圆减薄→晶圆切割→裸片固晶→金线键合→塑封成型→去飞边→引脚电镀→测试→成品入库
CMOS 图形传感器(CMOS Image Sensor,CIS)的核心是通过像素阵列实现光电转换,并集成信号处理电路完成 “光信号 - 电信号 - 数字图像”...
石英晶振的核心是利用石英晶体的压电效应实现稳定频率输出,其工作过程可分为三个关键阶段:
电极片作为电子设备中信号传导与能量转换的关键部件,其性能直接决定终端设备的精度与可靠性。根据功能与应用场景,可分为两大核心类别,不同类型的工作原理存在显著差异:
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