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芯片测试座核心结构件材料性能对比分析原创

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芯片测试座结构件材料的性能差异,直接决定了测试精度、设备寿命与使用成本。从PEI到 PEEK + 陶瓷的材料升级,反映了半导体行业对测试可靠性要求的不断提升。根据德诺嘉电子芯片测试座工程师指出:在实际选型中,需结合具体测试场景,综合权衡性能与成本,选择最适配的材料,以实现测试效率与可靠性的最优平衡。随着半导体芯片向高功率、高精度方向发展,具备优异耐磨、耐温性能的工程材料(尤其是 PEEK + 陶瓷复合材料),将成为未来芯片测试座结构件的主流发展方向。
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德诺嘉IC测试座

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