我正在查看各种PCIe SSD设备的基准测试,通过比较,我发现IOPS在不同的队列深度上都会发生变化。这怎么可能,为什么会发生?我理解事物的方式是:我有一个最大(理论)为100 k IOPS的设备。如果我的工作负载始终产生100,001 IOPS,我的队列深度为1,对吗?然而,从我在基准测试中看到的情况来看,一些设备在较低的队列深度运行较慢,然后在4-64深度加速,然后在更大的深度上再次减速。队列深度不是OS(或者可能是存储控制器)的属性,那么为什么会影响IOPS呢?
我知道我可以使用任何给定的静态工作负载来使用fio测试我的磁盘。但是,是否有任何开源的高质量基准测试工具支持进行测试,其中我选择了以下参数作为常量:静态QD (至少可设置为1、2、4和8)直接I/O访问(类似于libaio of fio)基准测试应该慢慢地增加IOPS,直到延迟超过设定的极限,然后再进行基准测试。测试结果将是每个<em