武汉联特科技申请光模块双向对传老化测试系统专利，解决现有技术无法真实模拟模块间信号交互及性能监测不全面的问题

国家知识产权局信息显示，武汉联特科技股份有限公司申请一项名为“一种光模块双向对传老化测试系统”的专利，公开号 CN120601977A，申请日期为 2025 年 07 月。

专利摘要显示，本发明公开了一种光模块双向对传老化测试系统，通过在电路基板上设置三组空间对称的测试单元（含 EXT/DUT/DSP），配合光路切换装置与微结构散热结构，实现：1)多通道并行双向对传老化；2)基于温度/BER的闭环功率与衰减控制；3)眼图开度与多级BER协同监测。解决了现有技术无法真实模拟模块间信号交互及性能监测不全面的问题。

天眼查资料显示，武汉联特科技股份有限公司，成立于2011年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本12974.4万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉联特科技股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目9次，财产线索方面有商标信息12条，专利信息328条，此外企业还拥有行政许可93个。

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来源：市场资讯