前几天写了这个基准以后,其实我还有不少遗留的稿子没发,现在整理一个 NR电容的东西。

在这里
(现在我们讨论两个问题~)
1)这颗基准本身“有多干净、多稳”;(就是长期稳定性)
2)NR 电容到底在干什么。
下面以 2.5 V 版本(MAX6226_25)为例,其他电压只是成比例放大。
数据:0.1–10 Hz 内 1.45 µV(典型)。
换成 ppm(相对 2.5 V):1.45 µV / 2.5 V ≈ 0.58 ppm。
粗略折算成 RMS(把窗口噪声波形当成高斯统计,σ):σµµ,约 0.09 ppm。
即便在 0.1–10 Hz 这么窄的带宽里盯着它,输出晃动也只有几 10 万分之一,是“高精密电压基准”那个级别。

在闲鱼还看到一个白噪音发生器
1 kHz 处的噪声密度:
NR 悬空:75 nV/√Hz;NR 接 0.1 µF:45 nV/√Hz。
先看一个典型 ADC 场景——假设前端带宽 10 kHz:
不接 NR:µ
接 0.1 µF NR:µ
把它当成 2.5 V 全幅正弦的参考:
有 NR 时:
全幅正弦的 rms ≈ 2.5 / (2√2) ≈ 0.88 V
SNR ≈ 20·log₁₀(0.88 / 4.5 µV) ≈ 108–109 dB
等效 ENOB ≈ (SNR – 1.76)/6.02 ≈ 17.8 bit
没 NR 时:SNR 掉到 ~104 dB,ENOB ~17.0 bit。
在 10 kHz 这样比较宽的带宽下,这颗基准本身可以支撑接近 18 位的系统动态范围,再往上就要靠 ADC 自己的数字滤波、OSR 来压噪声了;但是对几十 kHz 以内带宽的 16–18 bit SAR、20-bit 左右 ΔΣ ADC,当引入 NR 电容时,参考噪声基本不会成为主导瓶颈。
如果系统带宽只有 100 Hz、10 Hz 级,积分噪声会更小——参考完全足够 20 bit 等级的应用。(下面会讨论一个极端情况)
数据表给出:11 ppm / 1000 h 典型长期漂移(25 °C 连续工作)。
对 2.5 V 来说:
11 ppm 对应电压变化:2.5 V × 11 ppm ≈ 27.5 µV / 1000 h
换算成 ADC LSB 感觉一下:
16 bit,FS = 2.5 V:LSB ≈ 38 µV → 漂移 < 1 LSB/1000 h
20 bit:LSB ≈ 2.4 µV → 大约 11–12 LSB/1000 h
24 bit:LSB ≈ 0.15 µV → 这时任何基准都要配合周期性校准,单靠“绝对不漂”是不现实的。
注意啊!!!

这是典型值,而不是保证值,而且长期漂移往往是“对数时间”的:前几百小时漂得多,后面趋于慢慢变平,数据表的长稳图上也是这种形状。另外这个数是 纯器件 + 良好 PCB 条件下测出来的;实际系统里,板子应力、焊接应力、温度循环、湿度都会再增加几到几十 ppm;但是话说回来这颗芯片用的是气密陶瓷 LCC 封装,专门为了改善湿度和机械应力引起的漂移,比常规塑封要好一大截。
看这个结果做 16 bit 以内精度(工业控制、电源、一般仪器),这颗的长期漂移基本可以当“不存在”,一年级别的误差比温度漂和系统误差还小。但是做 20 bit 以上“标准仪器/计量级”时,它属于“不错,但还不是神仙”的水平:可以作为主基准,应该是需要上电预老化几个星期后再做“出厂标定”;如果非常的有钱也可以系统里保留周期性自校手段(比如用比对源或多路基准互测)。

数据表 Pin 描述:NR = Noise Reduction,引脚 1,推荐接 0.1 µF 电容到 GND,用来改善宽带噪声。
“在 NR 上加 0.1 µF,可以把 1 kHz 处噪声从 75 nV/√Hz 降到 45 nV/√Hz,同时改善瞬态 PSRR;用 NR 电容测得的 0.1–10 Hz 噪声是 1.45 µV。”
可以把内部想象成这样:
核心 bandgap / buried-Zener 节点本身有噪声;这个节点通过内部放大电路(缓冲 + LDO 结构)驱动 OUT;NR 引脚把这个“参考节点”拉出来一部分,允许你在它和地之间加一个电容;内部在该节点前串了一个电阻 R,加上 C 后,形成一个 RC 低通:
低于 的 DC 和低频信号通过,高于 的噪声被衰减。
NR 脚其实是接到了内部参考放大器的某个“噪声敏感节点”,对地加 CNR 就是在那个节点挂了一个 RC 低通:低频 DC,不受影响,输出电压不变;如果是中高频噪声:被这个 RC 滤掉 → 所以宽带噪声密度明显下降(75 → 45 nV/√Hz);同时,这个 RC 也会 改善 AC PSRR,高频的电源纹波,被这个节点的低通滤掉一部分,不再那么容易变成参考输出上的噪声。
它主要滤的是“参考内部的宽带白噪声”和通过电源耦合来的高频噪声;0.1–10 Hz 这类 1/f 噪声基本在 R 之前产生,对 C 不敏感,所以看到 0.1–10 Hz 噪声接不接 NR 差别不大。
官方推荐 0.1 µF,几乎所有典型曲线和指标都是按这个值给的;不建议太大(>0.1–0.22 µF):带来的噪声改善有限,但启动时间会进一步变长(线性放大到几十毫秒以上)。这个节点阻抗较高,又直接影响基准噪声,建议 C0G / NP0 小容量瓷片,漏电和压电效应都比较小;也可以用 PPS、PTFE 小薄片电容,前提是体积允许;NR 引脚走线尽量短,直接贴在芯片旁边;参考地干净,不要穿过大电流回路;如果板子上有模拟地岛,把 NR 电容的地脚直接打在这个岛上。
CNR 和内部那个电阻共同决定一个时间常数 τ:
CNR 越大,上电时这个节点要充电的时间越长;手册给典型值:CNR = 0.1 µF 时,上电到 0.01% 需要 ~20 ms,不接时 ~1 ms。
如果系统带宽很窄(比如后端 ΔΣ ADC 数字滤波带宽只有几十 Hz),而且电源已经做得很干净,NR 即使用也只是锦上添花;对“超快上电、上电立刻校准”的系统(比如某些便携设备上电后几毫秒内要采样)可以权衡:不要 NR → 噪声略高一点,但启动超快;大多数高精度测量系统还是建议焊上 0.1 µF,因为 20 ms 的上电时间通常完全可以接受。
另外对大多数精密系统,这 20 ms 完全可以接受,所以我的建议是:
作为精密基准使用:NR=0.1 µF 视为“必配”,除非有特别苛刻的上电瞬态要求。
按32bit ADC 带宽 100k,算一遍“基准噪声 → 系统 ENOB”占比,看看我们在具体信号链里它到底是不是瓶颈。
数据手册给的关键数字(以 2.5 V 版本为例):0.1–10 Hz 低频噪声, (NR=0.1 µF 时测得)
宽带噪声密度 @1 kHz:
无 NR:75 nV/√Hz
NR=0.1 µF:45 nV/√Hz(2.5 V 输出)MAX6226
长期稳定度(长期漂移): (典型值)
温度系数:A 档 1 ppm/°C 典型,3 ppm/°C 最大
热滞回:约 5 ppm/全温度循环
把这些换算成立即有用的“电压量级”:
以 2.5 V 参考为例:
长期漂移 11 ppm/1000 h → 电压,
热滞回 5 ppm → 电压,
温漂 3 ppm/°C(max)
若只在 25 ± 10 °C,小范围变化: 总温漂 ≈ 3 ppm/°C × 20 °C = 60 ppm → 150 µV;如果真跑满 -40~+125 °C(165 °C),那是 495 ppm ≈ 1.24 mV(这是“极端 worst-case 量级”)。
结论: 这颗基准的长期漂移和热滞回都是几十 µV 级别, 对 2.5 V 参考来说,相当于 10⁻⁵ 量级的长期相对变化。
给的条件:100 kHz 带宽 + 32 位 ADC,我们先单独算“参考噪声本身能支撑多少 ENOB”。
以 NR=0.1 µF、2.5 V 版本为例:
宽带白噪声部分
假设在 0–100 kHz 内近似白噪声:
0.1–10 Hz 低频噪声部分
1.45 µVpp,按常见经验 反推:
合成参考噪声(RMS)
低频那一小点可以忽略不计——100 kHz 里完全是白噪声在主导。
假设 ADC 满量程正弦,振幅 = :
折算成 ENOB(常用公式):
在 100 kHz 有效噪声带宽下,这颗基准本身就把系统 ENOB 限制在 ~16 bit 左右(即使 ADC 做到理想 32 bit)。
如果 BW 只到 10 kHz,白噪声会变成:
同样算一遍,会得到:
10 kHz 带宽 → ENOB ≈ 17.8 bit
1 kHz 带宽 → ENOB ≈ 19.4 bit
也就是说:
带宽每减一位数量级,参考噪声限制的有效位数大概多 1–2 位。
理想 32 位 ADC 的理论 SNR:
而我们算出来的 参考限制 SNR 只有 ~99 dB,中间差了将近 100 dB(相当于 16 bit 的差距)。
所以一个现实判断是:在 100 kHz 带宽下,即便挂的是“32-bit ADC”, 在 MAX6226 做参考的情况下,系统能看到的有效位数 也就是 16 bit 上下,更窄带宽可以到 18–19 bit。
这还是“只算参考噪声”的结果,没有把 ADC 自身噪声、前端放大器、PCB 噪声等加进去——现实系统会再打折。
再看长期漂移:
11 ppm/1000 h → 对应电压约 27.5 µV/1000 h
这个相对误差 ≈ ,等价位数 ≈
解释一下这句话的含义:
不做任何周期校准的情况下,“绝对电压准确度”长期只能稳定在 ~16.5 bit 的水平, 再高的位数都会被几十 µV 级的长期漂移“淹掉”。
如果愿意定期做标定/存储温度曲线,就可以把长期漂移从“系统误差”变成“可补偿项”,那样就可以利用到更多的瞬时 ENOB(比如 18–19 bit)。
Noise BW (Hz) White RMS (no NR) [nV] Total RMS (no NR) [nV] \
0 10 237.170825 323.290517
1 100 750.000000 781.515680
2 1000 2371.708245 2381.862036
3 10000 7500.000000 7503.217094
4 50000 16770.509831 16771.948806
5 100000 23717.082451 23718.099982
SNR limit (no NR) [dB] ENOB limit (no NR) [bits] \
0 131.746341 21.592415
1 124.079446 20.318845
2 114.399868 18.710942
3 104.433250 17.055357
4 97.446530 15.894772
5 94.436602 15.394784
White RMS (NR=0.1uF) [nV] Total RMS (NR=0.1uF) [nV] SNR limit (NR) [dB] \
0 142.302495 261.757060 133.580232
1 450.000000 500.766171 127.945501
2 1423.024947 1439.884286 118.771648
3 4500.000000 4505.359781 108.863611
4 10062.305899 10064.704007 101.882180
5 14230.249471 14231.945291 98.872915
ENOB limit (NR) [bits]
0 21.897049
1 20.961047
2 19.437151
3 17.791297
4 16.631591
5 16.131713
一个表:MAX6226: Reference noise vs bandwidth (up to 100 kHz)
图 1:积分参考噪声 vs 带宽
图 2:参考噪声能支撑的 ENOB 上限 vs 带宽
我用的数据就是手册里的:(宽带噪声密度:75 nV/√Hz(NR 不接),45 nV/√Hz(NR=0.1 µF);0.1–10 Hz:1.45 µVpp 低频噪声。)

横轴:噪声带宽(10 Hz → 100 kHz,log)
纵轴:积分后的参考噪声(nV RMS)
蓝线:NR 不接,橙线:NR=0.1 µF
带宽越大,噪声越 √BW 地往上爬;NR 线(橙色)一直比蓝线低,大带宽时差距越来越大 → 说明 NR 对高带宽系统更有价值

横轴:噪声带宽
纵轴:仅由参考噪声决定的 ENOB 上限
会直观看到:
10 Hz 带宽时:
有 NR:~21.8 bit
无 NR:~21.5 bit
100 kHz 带宽时:
有 NR:~16.1 bit
无 NR:~15.3 bit
在实际做的高分辨率低频测量(比如 1 kHz、几十 Hz 的 ΔΣ 带宽)里:参考噪声能支撑的 ENOB 远大于 ADC 实际 ENOB,MAX6226 完全够用,NR 电容属于“锦上添花级”。