翻盖旋扭测试座的可更换探针有何优势？-欣同达

在电子测试领域，翻盖旋扭测试座的可更换探针有着诸多显著优势。

1.维护成本降低：

可更换探针的设计使得当探针出现磨损、损坏或性能下降时，无需更换整个测试座。只需将损坏的探针取出并替换新的即可，大大降低了维修成本和材料成本。例如，在长期高频次的测试工作中，探针可能会因频繁接触而磨损，可更换探针的特性就可以及时解决这一问题，而不会让整个测试座因局部探针故障而报废。

2.测试灵活性提升：

不同的测试项目可能需要不同类型的探针，如针对不同的芯片引脚间距、不同的测试电流电压要求等。可更换探针的翻盖旋扭测试座可以根据实际测试需求灵活更换合适的探针。这就像给测试座配备了一个多功能工具箱，能够快速适应各种测试场景，提高测试效率和准确性。

3.延长测试座使用寿命：

由于能够及时更换损坏的探针，避免了因个别探针问题导致整个测试座的故障蔓延，从而有效延长了测试座的整体使用寿命。测试座作为一种相对昂贵的测试设备，其使用寿命的延长对于企业的长期成本控制和设备资源利用有着重要意义。

​4.方便故障排查与优化：

当测试出现异常时，如果是探针原因导致的，可更换探针可以方便地被单独取出检查和分析。通过对故障探针的研究，可以针对性地进行优化或更换更好性能的探针，有助于不断提升测试座的性能和测试质量，保障整个测试流程的可靠性。

深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座