窗口式老化座的技术与应用-欣同达

在现代电子制造领域，随着技术的发展，对电子组件的测试和验证标准变得日益严格。窗口式老化座作为一种精密的测试工具，在半导体封装测试中扮演着至关重要的角色。老化座不仅能够用于芯片的老化测试，还能进行筛选和验证，确保了芯片在实际应用中的可靠性和稳定性。

设计特点

窗口式老化座的设计兼顾了灵活性与耐用性。它适用于各种封装类型，包括BGA (Ball Grid Array), QFN (Quad-Flat No-leads), LGA (Land Grid Array), QFP (Quad Flat Package), SOP (Small Outline Package)等，几乎涵盖了市场上所有的主流封装形式。这种通用性使得窗口式老化座能够适应快速变化的电子制造业需求。

针对不同产品的间距要求，该老化座能够兼容0.4mm至1.27mm的产品间距，这进一步扩展了其应用范围。而且，由于探针可更换，一旦某个探针发生故障，用户可以很方便地进行替换，而不是替换整个老化座，这极大降低了维护成本。

材料与性能

窗口式老化座在材料的选择上体现了高科技的应用。针板采用了Peek陶瓷、PPS (Polyphenylene Sulfide)、Torlon 4203、PEI (Polyetherimide)等高性能工程塑料，这些材料耐高温、机械稳定性强，并具有良好的电绝缘性能。座头材料通常选用AL(铝)和PEI，确保了整体结构的稳固和耐用性。

探针类型包括弹簧探针、弹片以及导电胶，可根据不同的测试需求选择。特别是探针材质采用的是镀金的铍铜，这种材料不仅具有优秀的导电性和耐腐蚀性，而且还保证了探针在反复使用中的耐久性。

工作参数

窗口式老化座的工作温度范围宽广，从-55℃至175℃，可以满足几乎所有电子组件测试的环境要求。而其使用寿命长达5000小时，保证了长时间的工作能力。探针的弹力从20g至30g per pin，为芯片提供了稳定的接触压力，保证了测试的准确性。

结论

总而言之，窗口式老化座是高效率、高精度、高可靠性的测试工具。它的可更换探针设计、广泛的适用性，以及优良的材料和工作参数，使其成为电子制造行业中不可或缺的一员。随着电子产品向高密度和小型化方向发展，窗口式老化座的重要性将会进一步增强，成为保障电子产品质量的一个重要工具。

深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座。

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