材料研究平台支持哪些表征计算功能？

X射线衍射（XRD）

模拟材料的晶体结构和晶格参数，用于材料的相分析、粉末衍射等。

透射电子显微镜（TEM）

模拟材料的形貌、缺陷、晶界等纳米结构参数，并进一步计算其显微学特征。

扫描隧道显微镜（STM）

模拟材料的表面形貌、表面结构与晶格对接。

X射线光电子能谱（XPS）

模拟材料的表层结构、成分和物理化学性质。

原子力显微镜（AFM）

模拟材料表面的膜层、晶体生长和纳米结构。

核磁共振（NMR）

模拟材料结构中的各种元素性质，用于对材料的结构和性质进行分析。